DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO DE MEDIDA DE FRENTE DE ONDA.

La presente invención propone un nuevo procedimiento, dispositivo y producto de programa informático para la medida de frentes de onda.

El procedimiento y dispositivo para la medida de un frente de onda objeto de la presente invención comprende la obtención de un sensor de frente de onda de apertura sintética. En dicho procedimiento y dispositivo, el sensor de frente de onda de apertura sintética comprende generar un patrón de muestreo sintético que se obtiene agrupando al menos dos patrones de muestreo diferentes. El procedimiento y dispositivo se emplean para la medida de frentes de onda, medida de aberraciones oculares, la caracterización de elementos ópticos, medida de distancias, caracterización de superficies, y para fines metrológicos.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2014/070561.

Solicitante: UNIVERSIDADE DE SANTIAGO DE COMPOSTELA.

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: BARA VIÑAS, SALVADOR XURXO, ARINES PIFERRER,JUSTO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01J9/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES.Medida del desfase de rayos luminosos; Investigación del grado de coherencia; Medida óptica de la longitud de onda (espectrometría G01J 3/00).
DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO DE MEDIDA DE FRENTE DE ONDA.

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