PROCEDIMIENTO PARA LA INDUCCION DE VALORES EN LOS REGISTROS DE UN CIRCUITO DIGITAL EMULADO MEDIANTE UN CIRCUITO INTEGRADO DE EMULACION HARDWARE.

Procedimiento para la inducción de valores en los registros de un circuito digital emulado mediante un circuito integrado de emulación hardware.


El procedimiento, basándose en circuitos integrados digitales programables por el usuario, con distintos mecanismos de configuración y que se configuran, por ejemplo, mediante células de memoria volátil (11) y (12), se basa en poder manipular puntos concretos de un emulador hardware que permite configurar localmente diferentes elementos sin afectar al resto del sistema. El procedimiento consiste en que a partir de un circuito insensible a la actividad del reloj con el uso intensivo de una entrada de habilitación, efectuar una inducción del valor de inicialización en el registro, igual al valor que se desea inducir, manipulando una memoria volátil (12) que configura un decodificador (10) y realizando un cambio en el valor de polaridad deseado en la señal de inicialización, manipulando otra memoria volátil (11) que configura un multiplexor (9), llevando a cabo una restauración de las condiciones de configuración previas a la manipulación y liberando el circuito del estado congelado, activando la señal de habilitación (3) del reloj.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: UNIVERSIDAD DE SEVILLA.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: SEVILLA.

Inventor/es: TORRALBA SILGADO,ANTONIO, GARCIA FRANQUELO,LEOPOLDO, AGUIRRE ECHANOVE,MIGUEL ANGEL, TOMBS,JONATHAN NOEL.

Fecha de Solicitud: 20 de Diciembre de 2002.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 19 de Agosto de 2005.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/28 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (probando equipos durante la operación de espera o tiempo de inactividad G06F 11/22).
  • G01R31/317 G01R 31/00 […] › Ensayo de circuitos digitales.
  • G01R31/319 G01R 31/00 […] › Hardware de pruebas, es decir, circuitos de tratamiento de señales de salida.

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