Dispositivo de regulación de la temperatura de un módulo de pilotaje de un componente electrónico.
Dispositivo (20) de regulación de la temperatura de un módulo de pilotaje (30) de al menos un componente electrónico (10) destinado a estar dispuesto en el interior (INT) de una estufa (2) de envejecimiento de dicho componente electrónico (10) o de una cámara de vacío,
estando dicho módulo de pilotaje (30) configurado para generar unas señales eléctricas que permiten el funcionamiento nominal del componente electrónico (10), estando dicho dispositivo (20) configurado para regular la temperatura del módulo de pilotaje (30) para permitir su funcionamiento en el interior (INT) de dicha estufa en funcionamiento, evitando al mismo tiempo su envejecimiento prematuro o respectivamente su funcionamiento en el interior de dicha cámara de vacío.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2015/070800.
Solicitante: Bibench Systems / Charlu SAS.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 55 boulevard des Minimes 31200 Toulouse FRANCIA.
Inventor/es: TIZON,ANDRÉ-HUBERT.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
PDF original: ES-2769847_T3.pdf
Patentes similares o relacionadas:
Procedimiento y dispositivo para la realización del test de obleas de semiconductor por medio de un dispositivo de fijación atemperable, del 1 de Julio de 2020, de ERS ELECTRONIC GMBH: Procedimiento para la realización del test de obleas de semiconductor por medio de un dispositivo de fijación atemperable con las etapas: atemperado del dispositivo […]
Sistema de transporte, del 24 de Junio de 2020, de KONE CORPORATION: Sistema de transporte que comprende un circuito de seguridad, comprendiendo el circuito de seguridad una unidad de interfaz, cuya unidad de interfaz […]
Procedimiento para la vigilancia del estado de un dispositivo dinamométrico, dispositivo dinamométrico y módulo dinamométrico, del 27 de Noviembre de 2019, de METTLER-TOLEDO GMBH: Procedimiento para la determinación del estado de un dispositivo dinamométrico , en particular, un dispositivo de pesaje, con al menos un módulo dinamométrico , […]
Sistema de medición para un conductor de bajada de una pala de turbina eólica, del 13 de Noviembre de 2019, de Siemens Gamesa Renewable Energy A/S: Pala de turbina una turbina eólica, comprendiendo la pala un conductor de bajada que llega desde una punta de la pala a un bloque […]
Aeronave no tripulada y procedimiento para la realización de una medición de protección contra rayos en una instalación de energía eólica, del 23 de Octubre de 2019, de VESTAS WIND SYSTEMS A/S: Aeronave no tripulada para la realización de una medición de resistencia, de corriente y/o de tensión en un objeto, especialmente una […]
Disposición de puente de medida con detección de errores mejorada, del 9 de Octubre de 2019, de TECPHARMA LICENSING AG: Disposicion de puente de medida , comprendiendo un puente de medida con al menos un primer semipuente con una primera conexion de medicion (+UD), […]
Prueba de integridad de un medio de aislamiento en un suministro de alimentación ininterrumpida, del 24 de Julio de 2019, de INVENTIO AG: Un suministro de alimentación ininterrumpida incluyendo: una entrada para acoplar a un suministro de potencia principal ; una salida para conexión a una carga […]
SISTEMA Y METODO PARA PROBAR DISPOSITIVOS RFID, del 5 de Octubre de 2011, de INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE: Se presenta un sistema para probar dispositivos RFID. El sistema incluye una placa portadora configurada para portar un dispositivo RFID, […]