Procedimiento para la vigilancia del estado de un dispositivo dinamométrico, dispositivo dinamométrico y módulo dinamométrico.
Procedimiento para la determinación del estado de un dispositivo dinamométrico (200),
en particular, un dispositivo de pesaje, con al menos un módulo dinamométrico (244), que presenta una célula dinamométrica (210) y un medio de comunicación (248), con un terminal (206) y con al menos una línea de comunicación (212) a través de la cual son transmisibles señales de comunicación (C) entre el medio de comunicación (248) y el terminal (206), caracterizado por que, durante el funcionamiento del dispositivo dinamométrico (200), se mide al menos una vez la tensión eléctrica (VS) de la al menos una línea de comunicación (212) con un sensor de tensión (SENS) y, de esta forma, se genera al menos un valor de medición (M), por que el al menos un valor de medición (M) y/o sus resultados procesados (R) se transmiten a través de la al menos una línea de comunicación (212) al terminal (206) y/o al medio de comunicación (248) de otro módulo dinamométrico (244) y por que, a partir de ellos, se determina un parámetro del estado del dispositivo dinamométrico (200).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2008/053622.
Solicitante: METTLER-TOLEDO GMBH.
Inventor/es: BLISS,DOUGLAS, TRAUTWEILER,CHRISTOPH.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01G23/01 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01G DETERMINACION DEL PESO. › G01G 23/00 Dispositivos accesorios para aparatos pesadores. › Ensayo o calibrado de aparatos para pesar.
- G01R31/28 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
PDF original: ES-2733049_T3.pdf
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