PROCEDIMIENTO DE ANÁLISIS FUNCIONAL DE SEMICONDUCTORES ALIMENTADOS INALÁMBRICAMENTE.
Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamente.
Se describe un procedimiento para analizar semiconductores alimentados inalámbricamente en estado de condiciones de trabajo, es decir el análisis es funcional y permite obtener datos reales del componente en aquellas condiciones en las que será sometido cuando esté funcionando. Se basa en la toma de datos relacionados con las temperaturas que se producen en el semiconductor cuando se encuentra operativo, es decir se toman datos referidos a la hipertermia inducida por el paso de corriente por el semiconductor en funcionamiento. La señal que alimenta el componente semiconductor se somete, mientras se está alimentando y se están tomando datos de su temperatura, a una serie de modulaciones que generan una serie de efectos en su superficie, nos permite ver reacciones a las modulaciones y obtener datos como fallos o puntos de interés relacionados con el semiconductor mientras se encuentra en funcionamiento.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201530015.
Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: MADRID.
Inventor/es: VELLVEHI HERNANDEZ, MIQUEL, JORDA SANUY,XAVIER, PERPIÑÁ GIRIBET,Xavier, LEON CERRO,Javier.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N25/72 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 25/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de medios térmicos (G01N 3/00 - G01N 23/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas.
PDF original: ES-2579232_B1.pdf
PDF original: ES-2579232_A1.pdf
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