DISPOSITIVO Y METODO PARA DETECTAR CAMBIOS EN EL INDICE DE REFRACCION DE UN MEDIO DIELECTRICO.
Dispositivo y método para detectar cambios en el índice de refracción de un medio dieléctrico.
#El dispositivo para detectar cambios en el índice de refracción de un medio dieléctrico comprende:#al menos una capa de metal (300) dispuesta para situarse en relación con el medio dieléctrico (200);#al menos una fuente de luz (20) configurada para dirigir luz polarizada transversal magnética (TM) hacia dicha capa de metal, de manera que la luz se refleje en dicha capa de metal;#medios de acoplamiento (10); y#al menos un detector (31) configurado para recibir luz reflejada por la capa de metal y para detectar, al menos, una característica de dicha luz.#De acuerdo con la invención, la capa de metal contiene un material ferromagnético.#La invención también se refiere a un método.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: MADRID.
Inventor/es: LECHUGA GOMEZ,LAURA M., SEPULVEDA MARTINEZ,BORJA, ARMELLES REIG,GASPAR, CALLE MARTIN,ANA.
Fecha de Solicitud: 11 de Junio de 2004.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 10 de Octubre de 2007.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/55B2
Clasificación PCT:
- G01N21/55 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Reflexión especular.
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