SISTEMA PARA UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS.
Sistema para un microscopio de fuerzas atómicas.
La presente invención se refiere a un sistema que comprende un conjunto palanca-punta y un nanopilar magnético situado sobre el extremo de la punta del conjunto palanca-punta que ha sido depositado mediante la técnica de deposición inducida mediante haz de electrones focalizado.
Además, la presente invención se refiere a un microscopio de fuerzas magnéticas que comprende dicho sistema y al uso de dicho sistema o microscopio para la realización de estudios simultáneos topográficos y magnéticos y/o de manipulación de muestras de tamaño micro y nanométrico en medio líquido, preferiblemente de muestras biológicas. Por tanto, la presente invención se engloba en el área de la nanotecnología, concretamente en el área de la fabricación de dispositivos para la caracterización de muestras de tamaño micro y nanométrico.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201731292.
Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS.
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: DE TERESA NOGUERAS,JOSE MARIA, GOMEZ HERRERO,JULIO, ASENJO BARAHONA,AGUSTINA, JAAFAR RUIZ-CASTELLANOS,Miriam, ARES GARCÍA,Pablo, PABLO NAVARRO,Javier, MAGEN DOMINGUEZ,Cesar.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B7/34 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 7/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios eléctricos o magnéticos. › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
PDF original: ES-2711860_A1.pdf
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