DISPOSITIVO, SISTEMA Y PROCEDIMIENTO DE CARACTERIZACION DE ELEMENTOS REFLECTORES A PARTIR DE LOS HACES DE LUZ REFLEJADOS.

Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterización de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos y en concreto a partir de la calidad de dichos haces de luz.

El dispositivo comprende al menos dos detectores de ganancia variable, dispuestos sobre una estructura común, que puede ser portable o fija, y dispuesta para captar los haces de luz reflejados por al menos un elemento reflector, preferiblemente un heliostato, y a partir de al menos un procesador caracterizar la calidad de dichos haces de luz reflejados y por lo tanto evaluar la calidad del elemento reflector o heliostato a partir de su capacidad reflectora. Asimismo, cada detector comprende una lente para aumentar la relación señal-ruido del haz o haces reflejados, al menos un sensor de luz en el que se focalizan el haz o haces captados por la lente, un sistema automático de selección de la ganancia asociado al sensor óptico y unos medios de comunicación de datos asociados al propio dispositivo. Asimismo, la invención se refiere a un sistema y a un procedimiento de caracterización de elementos reflectores, heliostatos, a partir de la calidad de los haces de luz reflejados en al menos un elemento reflector o heliostato.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2019/070524.

Solicitante: FUNDACION CENER-CIEMAT.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: NAVARRA.

Inventor/es: HERAS VILA,CARLOS, SANCHEZ GONZALEZ, MARCELINO, IZQUIERDO NUÑEZ,David, SALINA ARIZ,Iñigo, PEÑA LAPUENTE,Adrian, LES AGUERREA,Iñigo, MUTUBERRIA LARRAYOZ,Amaia.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • F24S50/20
  • F24S50/80
  • G01M11/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar.

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