Colector de prueba de conector de matriz para instrumentos de prueba ópticos asimétricos.

Un sistema de colector de conectores de matriz para una prueba de red óptica de un enlace óptico multifibra (18) que comprende múltiples rutas ópticas,

que comprende:

un primer conector de bucle de retorno (30) conectable a dicho enlace óptico multifibra (18) cuando se somete a prueba en un primer extremo del mismo; y

un segundo conector de bucle de retorno (32) conectable al enlace óptico multifibra (18) sometido a prueba en un segundo extremo del mismo, y

en donde dichos conectores de bucle de retorno primero y segundo (30, 32) cooperan, durante el uso, para interconectar las fibras individuales de dicho enlace óptico multifibra (18) sometido a prueba para formar una ruta óptica única a través del mismo,

caracterizado por que:

cada uno de dichos primer conector de bucle de retorno (30) y segundo conector de bucle de retorno (32) comprende una interfaz de bucle de retorno respectiva, comprendiendo cada interfaz de bucle de retorno una pluralidad de bucles de retorno para interconectar algunas de dichas fibras individuales para formar la ruta óptica única,

en donde al menos una de dichas interfaces de bucle de retorno comprende:

unas longitudes únicas para los bucles de retorno de dicha interfaz de bucle de retorno, o

unos elementos de pérdida no reflectantes en localizaciones únicas dentro de los bucles de retorno de dicha interfaz de bucle de retorno,

y por que el primer conector de bucle de retorno comprende una fibra de entrada (34) y un cable de cola (36).

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E13167044.

Solicitante: FLUKE CORPORATION.

Inventor/es: SCHILLAB,CHRISTIAN, KASSLER,HARLAN, SCHELL,J. DAVID.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01M11/00 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar.
  • G02B6/38 G […] › G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 6/00 Guías de luz; Detalles de estructura de las disposiciones que comprenden guías de luz y otros elementos ópticos, p. ej. medios de acoplamiento. › siendo los medios de acoplamiento fibra a fibra.
  • H04B10/073 ELECTRICIDAD.H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS.H04B TRANSMISION.H04B 10/00 Sistemas de transmisión que utilizan haces de radiación electromagnéticas u otro tipo de ondas, p. ej. la luz, los infrarrojos, ultravioletas o radiación corpuscular, p. ej. comunicación cuántica. › utilizando una señal sin servicio (H04B 10/071  tiene prioridad).

PDF original: ES-2757834_T3.pdf

 

PDF original: ES-2757834_T8.pdf

 

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