PROCEDIMIENTO DE CARACTERIZACION DE ELEMENTOS REFLECTORES A PARTIR DE LOS HACES DE LUZ REFLEJADOS EN LOS MISMOS.

Dispositivo, sistema y procedimiento de caracterización de elementos reflectores a partir de los haces de luz reflejados en los mismos y en concreto a partir de la calidad de dichos haces de luz.

El dispositivo comprende al menos dos detectores de ganancia variable dispuestos sobre una estructura común, que puede ser portable o fija, y dispuesta para captar los haces de luz reflejados por al menos un elemento reflector, preferiblemente un heliostato, y a partir de al menos un procesador caracterizar la calidad de dichos haces de luz reflejados y por lo tanto evaluar la calidad del elemento reflector o heliostato a partir de su capacidad reflectora. Asimismo, cada detector comprende una lente para aumentar la relación señal-ruido del haz o haces reflejados, al menos un sensor de luz en el que se focalizan el haz o haces captados por la lente, un sistema automático de selección de la ganancia asociado al sensor óptico y unos medios de comunicación de datos asociados al propio dispositivo. Asimismo, la invención se refiere a un sistema y a un procedimiento de caracterización de elementos reflectores, heliostatos, a partir de la calidad de los haces de luz reflejados en al menos un elemento reflector o heliostato.

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201830756.

Solicitante: FUNDACION CENER-CIEMAT.

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: HERAS VILA,CARLOS, SANCHEZ GONZALEZ, MARCELINO, IZQUIERDO NUÑEZ,David, SALINA ARIZ,Iñigo, PEÑA LAPUENTE,Adrian, LES AGUERREA,Iñigo, MUTUBERRIA LARRAYOZ,Amaia, GARCÍA-BARBERENA LABIANO,Javier.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • F24S50/80
  • G01B11/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
  • G01B9/00 G01B […] › Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00).

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