MÉTODO DINAMICO DE MICROSCOPÍA DE FUERZAS Y MICROSCOPIO PARA ADQUIRIR DE FORMA SIMULTANEA IMÁGENES DE TOPOGRAFIA Y MAPAS DE FUERZA.
Método dinámico de microscopía de fuerzas para adquirir imágenes de superficies,
determinar de forma directa la fuerza ejercida sobre un material que permite, además, cuantificar las propiedades no topográficas, basado en excitar la micropalanca de un microscopio de fuerzas a una frecuencia menor que la frecuencia de resonancia y mantener constantes la amplitud de oscilación de la misma y la fuerza que se ejerce sobre la superficie mientras se adquiere una imagen.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2019/070342.
Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: MADRID.
Inventor/es: GARCIA GARCIA,RICARDO, ALVAREZ AMO,Carlos.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01Q10/06 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01Q TECNICAS O APARATOS DE SONDA DE BARRIDO; APLICACIONES DE TECNICAS DE SONDA DE BARRIDO, p. ej. MICROSCOPIA POR SONDA DE BARRIDO [SMP]. › G01Q 10/00 Disposiciones para barrido o posicionamiento, es decir, disposiciones para controlar de forma activa el movimiento o posición de la sonda. › Circuitos o algoritmos al efecto.
- G01Q60/34 G01Q […] › G01Q 60/00 Tipos particulares de microscopía por sonda de barrido [SPM] o aparatos empleados; Componentes esenciales al efecto. › Modo de contacto intermitente.
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