DISPOSITIVO QUE CONTIENE MANOSENSORES PARA DETECTAR UN ANALITO Y SU METODO DE FABRICACION.
Un dispositivo para detectar un analito (44), que comprende: una zona de exposición a muestras (30);
un primer y un segundo electrodos (36); un nanoalambre (38) conectado entre el primer y segundo electrodos y montado de tal forma que al menos una parte suya es directamente accesible por una muestra en la zona de exposición a muestras, estando el nanoalambre depositado sobre un sustrato tras el crecimiento del nanoalambre y una entidad de reacción (42) unida y acoplada eléctricamente al nanoalambre de tal modo que una interacción entre la entidad de reacción y un analito (44) en la muestra provoca un cambio detectable en una propiedad eléctrica del nanoalambre.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: PRESIDENT AND FELLOWS OF HARVARD COLLEGE.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: HOLYOKE CENTER - SUITE 727, 1350 MASSACHUSETTS AVE,CAMBRIDGE, MA 02138.
Inventor/es: LIEBER,CHARLES,M, PARK,HONGKUN, WEI,QUINQIAO, CUI,YI, LIANG,WENJIE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 10 de Septiembre de 2008.
Clasificación PCT:
- C30B29/60 QUIMICA; METALURGIA. › C30 CRECIMIENTO DE CRISTALES. › C30B CRECIMIENTO DE MONOCRISTALES (por sobrepresión, p. ej. para la formación de diamantes B01J 3/06 ); SOLIDIFICACION UNIDIRECCIONAL DE MATERIALES EUTECTICOS O SEPARACION UNIDIRECCIONAL DE MATERIALES EUTECTOIDES; AFINAMIENTO DE MATERIALES POR FUSION DE ZONA (afinamiento por fusión de zona de metales o aleaciones C22B ); PRODUCCION DE MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA (colada de metales, colada de otras sustancias por los mismos procedimientos o aparatos B22D; trabajo de materias plásticas B29; modificación de la estructura física de metales o aleaciones C21D, C22F ); MONOCRISTALES O MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA; TRATAMIENTO POSTERIOR DE MONOCRISTALES O DE MATERIALES POLICRISTALINOS HOMOGENEOS DE ESTRUCTURA DETERMINADA (para la fabricación de dispositivos semiconductores o de sus partes constitutivas H01L ); APARATOS PARA ESTOS EFECTOS. › C30B 29/00 Monocristales o materiales policristalinos homogéneos de estructura determinada caracterizados por los materiales o por su forma. › caracterizados por la forma.
- G01N27/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Investigación o análisis de materiales mediante el empleo de medios eléctricos, electroquímicos o magnéticos (G01N 3/00 - G01N 25/00 tienen prioridad; medida o ensayo de variables eléctricas o magnéticas o de las propiedades eléctricas o magnéticas de los materiales G01R).
- H01J1/304 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 1/00 Detalles de electrodos, de medios de control magnéticos, de pantallas, o del montaje o espaciamiento de estos elementos, comunes a dos o más tipos básicos de lámparas o tubos de descarga (detalles de dispositivos óptico-electrónicos o de captadores de iones H01J 3/00). › Cátodos de emisión de electrones de campo.
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