APARATO Y PROCESO PARA SIMULAR Y ANALIZAR UN SISTEMA CON MODOS DE FALLO.
Un proceso para analizar un sistema que comprende las siguientes etapas:
recoger datos de un primer sistema, en donde dicho primer sistema tiene una pluralidad de modos de fallo de causa acumulada y una pluralidad de modos de fallo de causa competitiva y caracterizado por que dichos datos se refieren a ambos modos de fallo de causa acumulada y de causa competitiva; parametrizar dichos datos para utilizarlos con un programa informático simulando un segundo sistema; y ejecutar dicho programa informático simulando dicho segundo sistema, en donde dicha etapa de ejecución comprende las etapas de: calcular un primer tiempo efectivo de trabajo para cada modo de fallo basado en dichos datos recogidos de dicho primer sistema, determinar cuál de dichos modos de fallo de causa acumulada y modos de fallo de causa competitiva produce un primer evento de pérdida en dicho segundo sistema seleccionando el valor más bajo de dichos primeros tiempos efectivos de trabajo, y si dicho modo de fallo que produce dicho primer evento de pérdida de dicho segundo sistema es uno de dicha pluralidad de modos de fallo de causa acumulada, entonces calcular un segundo tiempo efectivo de trabajo sólo para dicho modo de fallo de causa acumulada que produce dicho primer evento de pérdida para dicho segundo sistema y calcular un segundo tiempo efectivo de trabajo para cada uno de dicha pluralidad de modos de fallo de causa competitiva, y utilizar al menos uno de dichos tiempos efectivos de trabajo calculados para implantar cambios en dicho sistema.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: THE PROCTER & GAMBLE COMPANY.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: ONE PROCTER & GAMBLE PLAZA,CINCINNATI, OHIO 45202.
Inventor/es: CAPORALE,DONNA,MARIE, LANGE,THOMAS,JEROME, KOEHLER,ARTHUR,JOSEPH, LOONEY,MICHAEL,TIMOTHY.
Fecha de Publicación: .
Clasificación PCT:
- G06F11/00 FISICA. › G06 CALCULO; CONTEO. › G06F PROCESAMIENTO ELECTRICO DE DATOS DIGITALES (sistemas de computadores basados en modelos de cálculo específicos G06N). › Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00).
- G06F11/26 G06F […] › G06F 11/00 Detección de errores; Corrección de errores; Monitorización (detección, corrección o monitorización de errores en el almacenamiento de información basado en el movimiento relativo entre el soporte de registro y el transductor G11B 20/18; monitorización, es decir, supervisión del progreso del registro o reproducción G11B 27/36; en memorias estáticas G11C 29/00). › Pruebas funcionales.
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