CIP 2015 : G01B 11/30 : para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.

CIP2015GG01G01BG01B 11/00G01B 11/30[1] › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.

Notas[t] desde G01 hasta G12: INSTRUMENTOS

G SECCION G — FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.

G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).

G01B 11/30 · para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.

CIP2015: Invenciones publicadas en esta sección.

Dispositivo y procedimiento de reconstrucción tridimensional de una escena por análisis de imagen.

(16/10/2018) Dispositivo de reconstrucción tridimensional de una escena por análisis de imagen, que comprende un aparato de toma de imagen para capturar unas imágenes de la escena, un dispositivo de análisis para calcular una reconstrucción tridimensional de la escena a partir de al menos una imagen de la escena tomadas por el aparato de toma de imagen y un dispositivo de proyección para proyectar un primer motivo luminoso y un segundo motivo luminoso complementarios en la escena examinada, estando el primer motivo luminoso y el segundo motivo luminoso proyectados según unos ejes de proyección (A1; A2) distintos que forman un ángulo no nulo…

Procedimiento para detectar las superficies de borde frontales de fibras huecas y procedimiento para detectar los espacios interiores de fibras huecas, no obstruidas, de un haz de fibras huecas.

(28/02/2018) Procedimiento para detectar los espacios interiores (H) de fibras huecas (F) no obstruidas que forman parte de un haz (B1, B2) de fibras huecas (F), - presentando el haz (B1, B2) una superficie frontal (SF1, SF2) y una superficie posterior (HF1, HF2), - estando fabricadas las fibras huecas (F) de un primer material, en particular plástico, por ejemplo, polisulfona u otro polímero, y extendiéndose las mismas desde la superficie frontal (SF1, SF2) hasta al menos la superficie posterior (HF1, HF2) del haz (B1, B2), y - estando formada conjuntamente la superficie frontal (SF1, SF2) por las superficies de borde frontales (SR) de las fibras huecas (F) y la…

Métodos y aparato para monitorizar máquinas de acondicionamiento de materiales en banda.

(13/12/2017). Solicitante/s: THE BRADBURY COMPANY, INC.. Inventor/es: SMITH,GREGORY S, COX III,CLARENCE B.

Sistema que comprende: una pluralidad de cilindros de trabajo para procesar un material en banda continua ; un primer sensor para medir una primera distancia entre una superficie superior del material en banda y una primera ubicación de referencia , encontrándose el primer sensor más adelante de una salida de los cilindros de trabajo y midiendo el primer sensor una segunda distancia entre la superficie superior del material en banda y la primera ubicación de referencia, midiéndose la primera y la segunda distancia en dos momentos diferentes; y un controlador para determinar un valor de diferencia entre la primera distancia y la segunda distancia con el fin de detectar curvatura de material en el material en banda.

PDF original: ES-2662003_T3.pdf

Método y aparato para determinar la cantidad de luz dispersada en un sistema de visión artificial.

(25/10/2017) Un método para determinar la cantidad de luz dispersada en un objeto en un sistema de visión artificial, que comprende: - iluminar dicho objeto con luz incidente que tiene una extensión limitada, al menos en una dirección, usando una fuente de luz ; y, - detectar la luz que emana de dicho objeto usando un sensor de imágenes , en donde dicha luz emanada es luz reflejada (R) en la superficie de dicho objeto y luz dispersada (S) en dicho objeto , dando dicha luz detectada como resultado al menos una curva de distribución de intensidad en dicho sensor de imágenes , que tiene un pico en el que dicha luz reflejada (R) se detecta en dicho sensor de imágenes , …

Dispositivo portátil para la medición de la superficie de rodillos metálicos y procedimiento de medición empleado con el mismo.

(19/09/2017). Solicitante/s: FUNDICIONES BALAGUER, S.A. Inventor/es: GARCIA MARIN,Joaquin Angel, DIONNE HAMEL,Alain, WOLFSGRUBER,Sepp Mathias.

Dispositivo portátil para la medición de la superficie de rodillos metálicos y procedimiento de medición empleado con el mismo. La invención se refiere a un dispositivo portátil para la medición de la superficie de rodillos metálicos que comprende una lámpara y una cámara con lente, alojados en una carcasa y una tableta conectada con la cámara; donde la carcasa del dispositivo portátil presenta una abertura en la base, a través de la cual se realiza la toma de lectura, estando la lámpara y la cámara dispuestos de manera tal que ambos emiten su haz hacia la misma abertura abierto en la base de la carcasa, estando la lámpara y la cámara dispuestos en un ángulo mínimo respecto a la vertical. La invención se refiere igualmente al procedimiento de medición empleado con el dispositivo descrito.

PDF original: ES-2633132_B1.pdf

PDF original: ES-2633132_A1.pdf

SISTEMA Y MÉTODO DE DETECCIÓN DE DEFECTOS EN SUPERFICIES ESPECULARES O SEMI-ESPECULARES MEDIANTE PROYECCIÓN FOTOGRAMÉTRICA.

(23/08/2017) Sistema y método de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares mediante proyección fotogramétrica. La presente invención se refiere a un sistema de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares de objetos a inspeccionar, apto para su integración en una línea de producción industrial, que comprende: una pluralidad de medios de emisión de luz sobre los objetos; una pluralidad de cámaras para la detección de la luz reflejada por los objetos; un subsistema de control y análisis fotogramétrico de información asociada a la luz emitida por los medios de emisión de luz y a la luz detectada…

Sistema de inspección de defectos en lentes de proyectores de vehículos.

(25/07/2017). Solicitante/s: UNIVERSIDAD DE JAEN. Inventor/es: GAMEZ GARCIA,JAVIER, GOMEZ ORTEGA,JUAN, SÁNCHEZ GARCÍA,ALEJANDRO, SATORRES MARTÍNEZ,SILVIA, ILLANA RICO,Sergio, CÁCERES MORENO,Óscar.

Perfeccionamiento en la solicitud de patente número P200930628 titulada "sistema de iluminación activo binario" donde en el sistema de iluminación comprende una fuente de iluminación , medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes y un sistema de visión por computador enfrentado dichos medios de manera que entre la fuente y los medios para generar el patrón queda definida una zona de inspección destinada a albergar una lente a inspeccionar. El sistema está provisto dos carcasas (2a, 2b) que comprenden dos placas de circuito impreso (PCB) a ambos lados de la zona de inspección, estando provista cada plaza de una pluralidad de LEDs, y teniendo cada carcasa un actuador lineal y un mecanismo de giro de manera que la distancia y el ángulo entre los LEDs y la zona de inspección son variables.

PDF original: ES-2626487_B1.pdf

PDF original: ES-2626487_A1.pdf

SISTEMA Y MÉTODO DE DETECCIÓN DE DEFECTOS EN SUPERFICIES ESPECULARES O SEMI-ESPECULARES MEDIANTE PROYECCIÓN FOTOGRAMÉTRICA.

(15/06/2017) La presente invención se refiere a un sistema de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares de objetos a inspeccionar, apto para su integración en una línea de producción industrial, que comprende: una pluralidad de medios de emisión de luz sobre los objetos; una pluralidad de cámaras para la detección de la luz reflejada por los objetos; un subsistema de control y análisis fotogramétrico de información asociada a la luz emitida por los medios de emisión de luz y a la luz detectada por las cámaras ; y una estructura de soporte , integrada en la línea de producción de los objetos a inspeccionar, en la que se encuentran dispuestos los medios de emisión de luz y las…

PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICIÓN DE HELIOSTATOS.

(07/03/2017) Procedimiento para la medición de heliostatos. La presente invención se refiere a un procedimiento para la medición de heliostatos de un campo de heliostatos de una central solar de torre central que presenta varios heliostatos . Los heliostatos presentan respectivamente al menos un reflector que presenta una superficie de espejo con las siguientes etapas: - posicionamiento de una aeronave controlable por encima del campo de heliostatos en una posición inicial (P) predeterminada, - movimiento de la aeronave según un patrón de vuelo predeterminado y toma simultánea de imágenes de un heliostato o de varios heliostatos mediante una cámara a un intervalo de tiempo predeterminado,…

Método y aparato para monitorizar y controlar características de una hoja en un proceso de plisado.

(22/02/2017) Un método de medición de las características geométricas de una estructura plisada en una hoja de papel, comprendiendo el método las etapas de: generar valores de intensidad de luz que representan características de posiciones en una hoja de papel mediante la emisión repetidamente de al menos dos haces de emisión contra cada una de las posiciones en la hoja de papel y reflejar los dos haces fuera de las posiciones y en un sensor construido y dispuesto para absorber y medir la intensidad de los haces de emisión reflejados, corregir la intensidad medida de los valores de intensidad de luz mediante el uso de un ajuste polinómico de orden n tomando la diferencia punto por punto entre…

Dispositivo y procedimiento para la medición del espesor y la excentricidad de piezas de trabajo alargadas.

(18/01/2017) Procedimiento para la medición del diámetro y la excentricidad de productos circulares que se desplazan en su dirección longitudinal en trenes de laminado, con una instalación de medida de tres o más escáneres láser, que presentan cada uno un sensor sensible a la luz y un láser , que está dirigido a una zona del sensor para la iluminación de ésta, proyectando la pieza de trabajo una sombra que se encuentra completamente dentro de la zona iluminada del sensor, que presenta los siguientes pasos del procedimiento: - a partir de un borde de sombra que proyecta el producto circular sobre el sensor del escáner…

Un método y un aparato para la medición cuantitativa de la precisión de la superficie de un área.

(26/10/2016) Un método para la medición cuantitativa de los parámetros de precisión de la superficie de un área, comprendiendo: dirigir una onda de luz plana monocromática hacia un área de la superficie predefinida; grabar una imagen de la luz reflejada con una cámara y un sistema de lente enfocados sobre dicha área de la superficie; deducir los parámetros de precisión de la superficie a partir de la imagen grabada; caracterizado por que dichos parámetros de precisión de la superficie se determinan de la siguiente manera: se obtiene un espectro espacial bidimensional (Sij(u, v)) de la geometría del área de la superficie mediante una transformada de Fourier de la imagen grabada; se ajustan los componentes predeterminados de Fourier (a1p, a2p, a3p, a4p) en un eje mayor cortado a lo largo del eje de mayor…

Procedimiento y sistema de control para controlar la calidad de revestimiento de piezas.

(28/09/2016) Procedimiento para controlar la calidad de revestimiento de unas carrocerías de vehículos automóviles (K) revestidas automáticamente en serie con un elemento de aplicación según los parámetros de procesamiento de un programa de revestimiento almacenado, en el que por lo menos un aparato de medición para medir por lo menos un parámetro de calidad de la capa es movido automáticamente por un robot (RO) o un autómata de movimiento sobre la superficie revestida de la carrocería de vehículo automóvil revestida en la operación de revestimiento en serie, y en unos puntos de medición predeterminados mide el parámetro, y siendo los valores de medición almacenados en un banco de datos; durante las mediciones, se determinan automáticamente las coordenadas de los puntos de medición en un sistema de coordenadas que define la superficie revestida y respecto al movimiento…

Sistema de fabricación de tuberías de riego y procedimiento para detectar un gotero.

(17/08/2016) Sistema de fabricación de tuberías de riego, que comprende: - un alimentador de tuberías continuo, una tubería de riego que circula a lo largo de una dirección de circulación predeterminada (X-X') en el alimentador de tuberías, presentando los goteros una salida de agua que se ha situado en el interior de la tubería por dicho alimentador de tuberías, circulando dicha tubería mientras se mantiene la salida de agua de los goteros en una orientación predeterminada, - un dispositivo de detección de goteros que incluye una unidad de detección láser con una fuente de láser que emite un haz láser dirigido a la ubicación de la cara exterior de tubería, en la que están presentes unos goteros…

Método y dispositivo de un sistema de medición.

(02/03/2016) Procedimiento para representar las características de un objeto por medio de un sistema de medición, en el que el sistema de medición y/o el objeto se desplazan uno con relación al otro en una dirección predefinida de desplazamiento, siendo desplazado preferentemente el objeto con relación al sistema de medición, en cuyo procedimiento el objeto se ilumina por medio de una luz incidente, que tiene una extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y la luz reflejada desde el objeto se detecta por medio de un sensor de imagen dispuesto en el mismo lado del objeto como la luz incidente, convirtiendo el sensor de procesamiento de la imagen la luz detectada en cargas eléctricas, según lo cual se crea una representación digital del objeto , caracterizado porque, la luz se lleva a chocar con el objeto a una distancia predeterminada desde…

Procedimiento y dispositivo para valorar un aspecto visual de una superficie pintada.

(24/04/2015) Procedimiento y dispositivo para valorar una superficie pintada , que comprende las etapas de: emitir luz por medio de un emisor de luz; pasar la luz emitida por dicho emisor a través de un medio transparente , el cual comprende un patrón sobreimpreso; proyectar la luz pasante a través del medio transparente , el cual comprende el patrón sobreimpreso, sobre una superficie pintada ; captar la luz proyectada sobre la superficie pintada por medio de una cámara ; analizar una información captada por la cámara con un dispositivo de procesamiento de datos y comparar la información captada de la luz proyectada sobre dicha superficie pintada con una información teórica. Así se puede evaluar si una superficie pintada de una pieza cumple…

Dispositivo óptico para observar los detalles estructurales milimétricos o submilimétricos de un objeto con comportamiento especular.

(21/01/2015) Dispositivo para la observación, mediante reflexión o transmisión, de detalles estructurales milimétricos o submilimétricos de un objeto , que presenta un comportamiento que es por lo menos parcialmente especular, situado en una zona de exposición , caracterizado por que el dispositivo incluye: - por lo menos una fuente de radiación con una superficie de emisión real o virtual que difunde la radiación procedente de la fuente y que presenta por lo menos dos regiones diferenciadas que emiten flujos de radiación, siendo por lo menos una de las características de la radiación diferente de una región a la siguiente, - un sistema de proyección óptico que está situado en la trayectoria de la radiación,…

Aparato y método para la medición en línea industrial de la topografía micrométrica y de la ondulación de productos en movimiento.

(19/11/2014) Sensor de microscopio para llevar a cabo un método para medir sin contacto la ondulación (Wa), con un valor de corte elevado de 5 mm, de una superficie en movimiento, que comprende: - un microscopio industrial que tiene un aumento adecuado para obtener un campo de visión de imagen en el intervalo de 1.000 μm y/o una resolución de al menos 0.5 μm, una distancia de trabajo mayor de 10 mm y una profundidad de campo mayor de 15 μm; - una fuente de láser pulsado en el orden de nanosegundos con una frecuencia de al menos V/(FOV-O) en s-1, donde V es la velocidad máxima de la superficie, en m/s, FOV es el campo de visión en la dirección de desplazamiento, en m y O es la superposición entre imágenes consecutivas en m, para emitir…

Dispositivo y procedimiento para emitir una señal al presentarse un suelo peligroso debajo de un vehículo.

(08/10/2014) Dispositivo para emitir una señal al presentarse un suelo peligroso debajo de un vehículo , en donde el dispositivo comprende: un sensor de superficie óptico para definir al menos un parámetro del suelo , un equipo de determinación de detención para determinar si el vehículo está parado o debe ser parado, y un equipo de emisión que emite una señal cuando el suelo se ha calificado como peligroso con ayuda del al menos un parámetro y el vehículo está parado o debe ser parado.

Método y dispositivo para fijar errores de forma y de ondulaciones en superficies de forma libre continuas.

(01/10/2014) Método para la determinación de errores de forma y de ondulaciones en superficies de forma libre continuas, caracterizado por el hecho de que errores locales del ángulo de inclinación de reflejos de dos haces de luz, que se irradian en ángulos diferentes entre sí en valor y señal y oblicuamente respecto a las normales ideales de la superficie de la forma libre por medir, son registrados y están sometidos a un algoritmo de evaluación matemático, de tal manera que está basado en un modelo de facetas a partir de los errores de valor del ángulo de inclinación medidos de los dos haces de luz diversamente reflejados para la formación del perfil de superficie de forma libre real, en el que a…

Procedimiento de inspección de superficies para la detección de defectos de la superficie y/o medir la topografía de la superficie.

(10/09/2014) Procedimiento de inspección de superficies para la detección de defectos de la superficie y/o medir la topografía de la superficie de superficies continuamente reflectantes, especialmente superficies reflectantes de bandas de metal, especialmente bandas de metal en movimiento, en el que - una cámara hace una toma de una muestra representada sobre una pantalla, que está diseñada de tal manera que representa como minimo puntos de corte de líneas, en donde - la dirección visual de la cámara está dirigida hacia una zona de la superficie reflectante y - la superficie de la pantalla sobre la que está representada la muestra está situada y orientada hacia esa zona de tal manera que el paso de rayos de los rayos visuales…

Sistema de inspección de elementos a presión de calderas de recuperación de centrales de generación eléctrica y método asociado.

(05/09/2014) Sistema de inspección de elementos a presión de calderas de recuperación de centrales de generación eléctrica y método asociado. La presente invención se refiere a un sistema de inspección de elementos a presión de calderas de recuperación de centrales de generación eléctrica que comprende un robot formado a su vez por un sistema de refrigeración, otro de posicionamiento y un cabezal sensor que integra un conjunto de elementos que llevan a cabo la detección de defectos en los elementos de la caldera a inspeccionar, donde dicho cabezal sensor incorpora un periscopio abatible que junto con una cámara permite tomar imágenes del interior de la caldera para la posterior inspección y detección de los elementos a presión de la misma, mientras que el método de inspección…

Un sistema y método para medir y mapear una superficie con relación a una referencia.

(22/11/2013) Un sistema dispuesto para medir el desplazamiento de una primera superficie de una estructura con respecto auna referencia de base que comprende una segunda superficie de la estructura, el sistema que comprende: , un medio de escaneo dispuesto para generar datos de punto de enturbiamiento con relación a una medición de laorientación espacial de una superficie distal con relación a un punto de referencia para definir una imagen tridimensionalde dicha primera superficie; un medio de almacenamiento que almacena los datos de referencia de base conrelación a la orientación espacial de la segunda superficie…

SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE LA RUGOSIDAD DE UNA MUESTRA DE PAPEL MEDIANTE EL ANÁLISIS DEL PATRÓN DE TEXTURA DEL SPECKLE.

(15/04/2013) Sistema y procedimiento para la medida de la rugosidad de una muestra de papel mediante el análisis del patrón de textura del speckle. Sistema para la medida de la rugosidad de una muestra de papel, que con un láser y un expansor del haz en ángulo y distancia determinada respecto a la muestra , una cámara digital en dirección normal a la muestra , un dispositivo de procesado con un adaptador, y con al menos una fuente de alimentación. Procedimiento para la medida de la rugosidad de una muestra de papel, que comprende las siguientes etapas (a) se proyecta y expande un haz láser sobre una muestra (b) una cámara capta la imagen, obteniendo un patrón de speckle (c) la cámara envía dicho patrón de speckle al dispositivo de procesado (d) el dispositivo de procesado obtiene el parámetro de rugosidad de la muestra a…

Perfilometro tridimensional por absorción óptica de fluidos.

(09/04/2013) Perfilómetro tridimensional por absorción óptica en fluidos. El invento permite medir la topografía de superficies pertenecientes a un substrato transparente o traslúcido que deja pasar luz a su través. Frente a la superficie de estudio se acerca otra de referencia de la que se conoce su topografía. El espacio intermedio se rellena con fluido ópticamente absorbente y se ilumina el conjunto con una fuente extensa de la que se pueden diferenciar al menos dos bandas espectrales con absorción diferente en el fluido . El cociente de radiancias integradas en esas bandas espectrales no depende del punto de la fuente ni de la dirección de observación. El registro de imágenes de la luz transmitida en esas bandas espectrales y su análisis posterior permite obtener el perfil completo de la superficie de estudio…

Procedimiento y dispositivo para la determinación en línea de la topografía micrométrica de productos en movimiento.

(20/03/2013) Procedimiento para el establecimiento del levantamiento topográfico micrométrico global y la determinación enlínea de parámetros de rugosidad 2D y 3D de una superficie S en desplazamiento, preferentemente una superficiede acero, según el cual se utiliza: - una fuente (4, 4') de luz láser que emite un haz que pasa a través de una o varias fibras ópticas y un sistemaóptico que realiza por lo menos una línea micrométrica de longitud por lo menos igual a una anchura decampo de visión de 500 mm, proyectándose dicha línea micrométrica sobre dicha superficie según un ángulode incidencia a comprendido entre 10 y 80º, y preferentemente entre 25 y 65º, con respecto a un eje óptico Z,utilizándose también la fuente láser (4, 4') para realizar una iluminación que…

PERFILÓMETRO TRIDIMENSIONAL POR ABSORCIÓN ÓPTICA EN FLUIDOS.

(24/01/2013). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID. Inventor/es: MARTINEZ ANTON,JUAN CARLOS.

El invento permite medir la topografía de superficies pertenecientes a un substrato transparente o traslúcido que deja pasar luz a su través. Frente a la superficie de estudio se acerca otra de referencia de la que se conoce su topografía. El espacio intermedio se rellena con fluido ópticamente absorbente y se ilumina el conjunto con una fuente extensa de la que se pueden diferenciar al menos dos bandas espectrales con absorción diferente en el fluido . El cociente de radiancias integradas en esas bandas espectrales no depende del punto de la fuente ni de la dirección de observación. El registro de imágenes de la luz transmitida en esas bandas espectrales y su análisis posterior permite obtener el perfil completo de la superficie de estudio.

PROCEDIMIENTO PARA COMPROBAR LA GEOMETRÍA DE CAPTADORES SOLARES CILÍNDRO-PARABÓLICOS Y SISTEMA PARA LLEVAR A CABO DICHO PROCEDIMIENTO.

(18/10/2012). Ver ilustración. Solicitante/s: ALBIASA COLLECTOR TROUGH, S.L. Inventor/es: OZÁEZ MUÑOZ,Emmanuel, ALBISU TRISTAN,Jon.

Procedimiento para comprobar la geometría de captadores solares cilindro- parabólicos que comprende los siguientes pasos: -posicionar la superficie reflectante del captador frente un escáner láser 3D de diferencia de fase -cubrir la superficie reflectante del modulo del captador con un elemento protector anti-reflejante -efectuar un escaneo de la superficie mediante el escáner láser. Gracias al escáner láser de diferencia de fase es posible caracterizar superficies cuyo foco es lineal.

SISTEMA DE ILUMINACION ACTIVO BINARIO.

(22/06/2012) Dispositivo de iluminación activo binario para piezas transparentes con superficies planas o curvas que comprende una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes, caracterizado porque los medios capaces de generar el patrón binario son una malla de un panel LCD y la fuente de iluminación es de gran luminancia. Gracias a que el sistema incorpora una malla de LCD se facilita el procesamiento de los datos y se da al sistema más dinamismo en cuanto a tamaño de las franjas, etc.

Método para la detección y clasificación de defectos superficiales sobre desbastes de colada continua.

(20/06/2012) Método para la detección y la clasificación de defectos superficiales sobre productos de colada continua,utilizando información topográfica en relación con el aspecto de las superficies de colada continua, en donde sedetectan defectos y/o imperfecciones con su posición exacta, se evalúa la posición y la extensión, y encorrespondencia con la evaluación previa al siguiente procesamiento del producto, se eliminan o se evitan medianteuna optimización del proceso, caracterizado porque, por una parte, se detectan los defectos y/o las imperfeccionessobre la superficie de los desbastes del producto primario de colada continua y se…

SISTEMA DE VISION ARTIFICIAL PARA LA DETECCION DE DEFECTOS EN SUPERFICIES ACABADAS.

(31/05/2012) Sistema de visión artificial para la detección de defectos en superficies acabadas. Comprende una estructura de soporte en la que se ajusta y fija en altura un bastidor principal en el que a su vez se ajusta y fija en al menos una primera dirección horizontal al menos un subconjunto móvil ; disponiéndose bajo ese o esos subconjuntos un transportador lineal de piezas con superficies acabadas; dotándose a cada subconjunto móvil de al menos unos medios de visión electrónica y unos medios de iluminación , ambos conectados a una unidad electrónica de procesado y control para facilitar tomas de imagen de una misma zona con distintas angulaciones de la iluminación incidente.

Procedimiento y dispositivo para la determinación y medición de desviaciones en la forma y ondulaciones en piezas rotacionalmente simétricas.

(29/05/2012) Procedimiento para la determinación de desviaciones en la forma y/o ondulaciones de piezas de prueba rotacionalmente simétricas, en el que - la pieza de prueba se gira sobre su eje de simetría, - un rayo de luz de medición se irradia desde una dirección prefijable sobre el perímetro de la pieza de prueba en un plano vertical al eje de rotación, - las posiciones de incidencia del rayo de luz de medición reflectado en un detector sensible a la posición se registran y almacenan en respectiva correlación a una secuencia de posiciones de ángulos de rotación teóricamente equidistantes ei de la pieza de prueba al menos durante una rotación…

1 · · ››

 

Patentes más consultadas

 

Clasificación Internacional de Patentes 2015