CIP-2021 : G01B 11/30 : para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.
G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
G01B 11/30 · para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
PROCESO PARA EL RECONOCIMIENTO DE OBJETOS Y DISPOSITIVO PARA LA REALIZACION DEL PROCESO.
(01/10/1998) LA PRESENTE INVENCION SE REFIERE A UN PROCESO PARA EL RECONOCIMIENTO DE OBJETOS A TRAVES DE RADIACION DEL OBJETO CON ONDAS ELECTROMAGNETICAS EN LA ZONA DESDE UV HASTA IR Y ELABORACION DE LAS ONDAS RECIBIDAS DEL OBJETO POR MEDIO DE UNA INSTALACION DE ELABORACION DE SEÑAL ELECTRONICA. LAS ONDAS QUE LLEGAN DEL OBJETO APARECEN AL MENOS EN UN CHIP EQUIPADO CON FOTODIODOS, QUE PRODUCEN LA FOTOEXCITACION TRANSMITIDA EN UNA RED NEURONAL Y DE FORMA QUE SE OBTIENEN LAS CARACTERISTICAS INDIVIDUALES O MULTIPLES DEL OBJETO SEGUN UNA MODIFICACION DETERMINADA, COMO DISPOSICION DE ESPACIO, FORMA, CONTORNO O MODIFICACIONES CARACTERISTICAS A TRAVES DE SEPARACION DE PARTES DEL OBJETO QUE APARECEN EN LAS ONDAS RECIBIDAS QUE LLEGAN AL CHIP Y LA TRANSMISION DE LA FOTOEXCITACION RECIBIDA DEL CHIP A LA RED NEURONAL CONTINUANDO AL MENOS, HASTA QUE LA RED…
PROCESO DE MEDICION DE LA FORMA Y/O DE LA PLANITUD DE UN MATERIAL DE PASO, Y DISPOSITIVO PARA SU APLICACION.
(16/06/1998) LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCESO DE MEDICION DE LA FORMA Y/O DE LA PLANITUD DE UNA FIBRA LONGITUDINAL DE UNA ANDA DE PASO. SE TOMAN ALTITUDES (YI) DE UN CONJUNTO DE N PUNTOS DE HILERA (I) DE DICHA FIBRA, Y SE DETERMINA UNA FUNCION (Y(I) DEPENDIENTE DE LA FORMA DE DICHA FIBRA. CUANDO SE TOMA LA ALTITUD DEL PUNTO DE HILERA (I), SE TOMAN SIMULTANEAMENTE LOS PUNTOS DE ALTITUD DE AL MENOS DOS OTROS PUNTOS QUE ESTAN CERCA Y SE SITUAN POR AMBAS PARTES DE ESTE. SE CALCULA APROXIMADAMENTE LA CURVATURA (K(X)I) DE DICHA FIBRA CERCA DE DICHO PUNTO DE HILERA I, Y DESPUES SE DETERMINAN UNA FUNCION (K(I)) REPRESENTATIVA DE LA EVOLUCION DE LA CURVATURA ENTRE DICHOS PUNTOS DE HILERA 1 Y DE HILERA N, Y POR INTEGRACIONES SUCESIVAS DE (K(I), SE DETERMINA UNA FUNCION (Y(I) REPRESENTATIVA…
MEJORAS RELATIVAS A LA MEDIDA DE LA CURVATURA SUPERFICIAL.
(01/12/1997). Solicitante/s: ROKE MANOR RESEARCH LIMITED. Inventor/es: MANNING, KEVIN ROSS.
SE PRESENTA UN APARATO PARA MEDIR LA CURVATURA DE UNA SUPERFICIE QUE COMPRENDE AL MENOS UNA FUENTE DE RADIACION ELECTROMAGNETICA, MEDIOS DETECTORES DE LA RADIACION ELECTROMAGNETICA, UN CONJUNTO DE LENTES POSICIONADAS Y DISPUESTAS PARA ENFOCAR LA RADIACION DE LA FUENTE REFLEJADA SOBRE DICHA SUPERFICIE SOBRE LOS MENCIONADOS MEDIOS DE DETECCION, EL APARATO SE CARACTERIZA EN QUE LOS MEDIOS DETECTORES ESTAN DISPUESTOS PARA SUMINISTRAR UNA SEÑAL DE SALIDA CARACTERISTICA DE UNA POSICION DE LOS MISMOS EN LA QUE LA RADIACION ES INCIDENTE Y MEDIOS PROCESADORES DE LA SEÑAL SENSIBLES A DICHA SEÑAL DE SALIDA PARA SUMINISTRAR UNA INDICACION RELATIVA A LA CURVATURA DE LA MENCIONADA SUPERFICIE.
PROCESO Y DISPOSITIVO PARA LA COMPROBACION SIN CONTACTO DE LA RUGOSIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES.
(01/08/1997) LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCESO Y UN DISPOSITIVO PARA LA COMPROBACION SIN CONTACTO DE LA RUGOSIDAD SUPERFICIAL DE MATERIALES CON RESPECTO A LAS DESVIACIONES DE UNA RUGOSIDAD SUPERFICIAL TEORICA DADA PREVIAMENTE. PARA GARANTIZAR UNA INSPECCION LO MAS REPRODUCIBLE POSIBLE DE LA RUGOSIDAD SUPERFICIAL DE UNA PLURALIDAD DE MATERIALES DIFERENTES, SE PROPONE AVERIGUAR LOS VALORES DEL ESPECTRO DE FRECUENCIA DEL LUGAR A PARTIR DE LOS VALORES DE INTENSIDAD DEPENDIENTES DEL LUGAR MEDIDO CON LA AYUDA DE UNA TRANSFORMACION DE FOURIER, A CONTINUACION ANALIZAR LA PARTE ESPECTRAL EN EL ESPECTRO DE FRECUENCIA DEL LUGAR CARACTERISTICO CONDICIONADO A TRAVES DE LA RUGOSIDAD DEL MATERIAL Y COMPARAR CON LOS VALORES DADOS PREVIAMENTE DEL ESPECTRO DE FRECUENCIA DEL LUGAR. ES…
METODO Y APARATO PARA LA INSPECCION DE PASTILLAS DE COMBUSTIBLE NUCLEAR DE CONFIGURACION CILINDRICA.
(01/09/1996) METODO Y APARATO PARA LA INSPECCION DE PASTILLAS DE COMBUSTIBLE NUCLEAR DE CONFIGURACION CILINDRICA. CONSISTE EN LEER OPTIMAMENTE AL MENOS UNA PARTE LINEAL EXTENDIDA AXIALMENTE DE LA SUPERFICIE PERIFERICA DE UNA PASTILLA DE COMBUSTIBLE NUCLEAR POR MEDIO DE UN LECTOR OPTICO, GENERAR UN JUEGO DE VALORES DIGITALES DISCRETOS REPRESENTATIVOS DE LA PARTE LEIDA OPTICAMENTE DE LA SUPERFICIE DE LA PASTILLA, A TRAVES DE UN MEDIO QUE RESPONDE AL MEDIO DE LECTURA OPTICA Y QUE GENERA ESE JUEGO DE VALORES DIGITALES DISCRETOS, COMPARAR EL JUEGO DE VALORES DIGITALES CON UN PATRON PREDETERMINADO E IDENTIFICAR GRUPOS DE VALORES DIGITALES REPRESENTATIVOS DE PUNTOS ADYACENTES EN LA SUPERFICIE…
PROCEDIMIENTO Y DISPOSICION DE MEDIDA PARA UNA MEDICION ON-LINE SIN CONTACTO.
(16/02/1996) UN CAMPO DE MEDIDA SOBRE UNA SUPERFICIE DE MATERIAL ASPERO SE CALIENTA MEDIANTE LA INCIDENCIA INCLINADA DE UNA RADIACON, CON UN RADIADOR DE INFRARROJOS, CUYA TEMPERATURA SUPERFICIAL SE MANTIENE CONSTANTE DURANTE LA MEDIDA. SE MIDE LA TEMPERATURA DE LA RADIACION REFLEJADA CON UN TERMOTETRO DE INFRARROJOS, QUE SE ENCUENTRA DISPUESTO POR ENCIMA DEL CAMPO DE MEDIDA DE FORMA QUE LA RADIACCION REFLEJADA INCIDE EN ELCAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DE INFRARROJOS. EL CAMPO DE MEDIDA TOTAL DE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL, QUE ESTA EN EL CAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DEL INFRARROJO DEBE SER CALENTADA MEDIANTE RADIACION. SE ALMACENA O MEMORIZA EL CICLO DE TEMPERATURA MEDIDA DE LA RADIACION REFLEJADA EN DEPENDENCIA DE LA RUGOSIDAD SUPERFICIAL CONOCIDA DEL MATERIAL EN UN EQUIPO DE COMPARACION. ESTE…
PROCEDIMIENTO Y DISPOSICION DE MEDIDA PARA UNA MEDICION ON-LINE SIN QUE EXISTA CONTACTO.
(16/02/1996) CON UN RADIADOR 2 DE INFRARROJOS, CUYA TEMPERATURA SUPERFICIAL PERMANECE CONSTANTE DURANTE LA MEDICION, SE RADIA UN CAMPO DE MEDICION 4 SOBRE UNA SUPERFICIE DE MATERIAL BAJO UNA INCIDENCIA DE RADIACION INCLINADA. LA TEMPERATURA DE LA RADIACION REFLEJADA SE MIDE CON UN TERMOMETRO 3 DE INFRARROJOS, QUE SE ENCUENTRA DISPUESTO POR ENCIMA DEL CAMPO DE MEDIDA DE FORMA QUE LA RADIACION REFLEJADA INCIDE EN EL CAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DE INFRARROJOS. LA TOTALIDAD DEL CAMPO DE MEDIDA DE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL, QUE SE ENCUENTRA EN EL CAMPO DE MIRA DEL TERMOMETRO DE INFRARROJOS, DEBE SER RADIADA. SE ALMACENA EL CIRCUITO DE TEMPERATURA DE LA RADIACION REFLEJADA CON DEPENDENCIA DE EL ESTADO O CONDUCCION DE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL EN UN EQUIPO DE COMPARACION 7. ESTE EQUIPO DE COMPARACION 7 DISPONE…
SISTEMA DE CARACTERIZACION DE SUPERFICIES POR VISION MECANIZADA.
(01/12/1995). Solicitante/s: AUTOSPECT, INC. Inventor/es: PARKER, JEFFREY, BRENT, CZUBKO, BRIAN, JAMES.
ESTE INVENTO ES UN SISTEMA INSPECTOR DE SUPERFICIES QUE INCLUYE UNA FUENTE DE LUZ CON UN PROFUNDO MARGEN ENTRE CLARO Y OSCURO Y UNA CAMARA DE VIDEO REFLEJANDO EL MARGEN REFLEJADO POR LA SUPERFICIE. LA INTENSIDAD DE LA LUZ DE LA FUENTE DE LUZ ES CONTROLADA UTILIZANDO UN SENSOR DE INTENSIDAD DE LUZ . UN SISTEMA OPTICO ENFOCA UNA IMAGEN DE LA FUENTE DE LUZ EN LA CAMARA DE VIDEO CON SUFICIENTE PROFUNDIDAD DE ENFOQUE PARA INCLUIR LA SUPERFICIE QUE DEBE SER INSPECCIONADA. LA DURACION DE LA EXPOSICION ESTA FIJADA PARA EVITAR IMAGENES BORROSAS SI LA SUPERFICIE SE ESTA MOVIENDO. UN APARTO DE CALCULO DE LA CALIDAD DE LA SUPERFICIE REALIZA, AL MENOS, UNA MEDIDA DE LA CALIDAD DE LA SUPERFICIE, COMO BRILLO, DISTINCION DE IMAGENES REFLEJADAS Y CORTEZA DE LA SUPERFICIE, DE LA SEÑAL DE VIDEO DE LA IMAGEN. EL APARATO DE CALCULO DE LA CALIDAD DE LA SUPERFICIE INCLUYE, PREFERIBLEMENTE, UN GRABADOR DE TRAMAS Y UN ORDENADOR DIGITAL DE PROPOSITO GENERAL.
DISPOSITIVO PARA ABARCAR OPTICAMENTE UNA ARMADURA.
(16/12/1994). Solicitante/s: ROBERT BOSCH GMBH. Inventor/es: PIENTKA, RAINER, DIPL.-PHYS., KARL, GERHARD, DIPL.-PHYS.
UN DISPOSITIVO PARA EL REGISTRO DE UNA ARMADURA MUESTRA ESCOTADURAS EN LA PARTE EXTERIOR DEL VIDRIO , EN EL LADO INFERIOR DE LA CARCASA , LAS CUALES ESTAN COMPUESTAS DE UN MATERIAL OPTICO SUPERTRANSPARENTE Y ELASTICO EN LAS PIEZAS DE LAMINAS . EN ESTAS PIEZAS DE LAMINAS ESTAN DISPUESTOS UNOS PRISMAS OPTICOS CON CUYA AYUDA SE ACOPLA EL RAYO DEL EMISOR AL CRISTAL Y SE DESACOPLA DE NUEVO HACIA EL RECEPTOR . UNA JUNTA ESTA DISPUESTA EN UNA RANURA ALREDEDOR DE LAS ESCOTADURAS Y DE LOS TRAYECTOS DE MEDICION ENTRE LAS PIEZAS DE LAMINAS OPTICAS . PARA LA FIJACION DEL SENSOR SOBRE EL CRISTAL ESTAN PEGADAS UNAS PIEZAS DE METAL SOBRE EL CRISTAL Y LA CARCASA SE ATORNILLA AL CRISTAL CON LA AYUDA DE LOS TORNILLOS. TAMBIEN LA CAJA SE APRIETA CON EL PIE DE UN ESPEJO . EL SENSOR PUEDE MONTARSE DE UNA FORMA CONJUNTA, DE TAL FORMA QUE SALE MUY BARATO Y SE FIJA CON UNA GRAN ADHERENCIA A LA PARTE INTERNA DEL CRISTAL.
METODO Y DISPOSITIVO PARA LA DETECCION Y CLASIFICACION DEL PLEGAMIENTO DE UN TRATAMIENTO SUPERFICIAL.
(01/02/1994) UN METODO PARA LA DETECCION Y CLASIFICACION DEL PLEGAMIENTO DE UN TRATAMIENTO DE SUPERFICIAL, CARACTERIZADO PORQUE IMPLICA, EN EL SIGUIENTE ORDEN, LAS FUNCIONES QUE SE RELACIONAN A CONTINUACION: LA ILUMINACION DE UN AREA SOMETIDA A EXAMEN MEDIANTE UN HAZ LUMINOSO COMPRENDE ESENCIALMENTE UNA PLURALIDAD DE AREAS DE LUZ, ALTERNADAS CON AREAS OSCURAS Y, PREFERENTEMENTE, CON BORDES BIEN DEFINIDOS ENTRE LAS AREAS ADYACENTES RESPECTIVAS; LA DETECCION DE UN HAZ REFLEJADO POR LA CITADA AREA QUE SE VA EXAMINAR UTILIZANDO MEDIO DETECTOR DE IMAGENES, ADAPTADO A EXPLORAR LA CITADA AREA MEDIANTE ESCANSION, PARA OBTENER UNA SEÑAL ELECTRICA ALTERNATIVA EN LA DETECCION POSTERIOR DE LAS CITADAS LUZ Y AREAS…
PROCEDIMIENTO PARA OBSERVACION DE ESTRUCTURAS SUPERFICIALES.
(01/12/1993). Solicitante/s: BASF AKTIENGESELLSCHAFT. Inventor/es: KNOLL, WOLFGANG, HICKEL, WERNER, DR., ROTHENHAEUSLER, BENNO, DR.
EL INVENTO CONSISTE EN UN PROCEDIMIENTO PARA OBSERVACION DEL INDICE DE FRACTURA Y/O ELEVADA MODULACION DE LA SUPERFICIE DE DIFERENTES ESTRUCTURAS SUPERFICIALES, DONDE ESTAS ESTRUCTURAS SUPERFICIALES SE LLEVAN EN UN CAMPO DE PLASMONES SUPERFICIALES Y SE EXPLORAN MEDIANTE MICROCOPIO DE PLASMONES DE SUPERFICIE.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA DETERMINAR LA ESTRUCTURA DE SUPERFICIE DE UNA MUESTRA ALARGADA, ESPECIALMENTE PARA MEDIR EL DESHILACHADO DE UN HILO.
(01/10/1993). Solicitante/s: ZELLWEGER USTER AG. Inventor/es: ERNST, FELIX, WAMPFLER, HANS, DR.
EL HILO ES ILUMINADO POR UN EMISOR Y LA LUZ REFLEJADA POR LA SUPERFICIE DEL HILO ES CONDUCIDA Y VALORADA EN UN RECEPTOR . PARA ELLO SE HA ELEGIDO EL HAZ LUMINOSO DE FORMA QUE EL RECEPTOR RECIBA UNICAMENTE LUZA PROCEDENTE DEL LATERAL NO ILUMINADO DEL HILO . DE ESTA MANERA PUEDE REALIZARSE FACILMENTE UN DISPOSITIVO DE MEDICION SIN NECESIDAD DE UTILIZAR LASER NI COLOCAR UNA LENTE DE FOURIER DELANTE DEL RECEPTOR.
PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE CALIDAD DE SUPERFICIES METALICAS.
(01/10/1993). Solicitante/s: AUDI AG. Inventor/es: BERGMANN, HANS-WILHELM, PROF. DR.
EN UN PROCEDIMIENTO PARA EL CONTROL DE CALIDAD DE SUPERFICIES METALICAS, QUE SE ILUMINAN PREVIAMENTE CON UN LASER IMPULSADO ESPECIALMENTE UN LASER-EXCIMER, SE REGISTRA LA CALIDAD SUPERFICIAL EN-LINEA OPTICAMENTE MEDIANTE REFLECTOMETRIA DIFERENCIAL EN UNA ZONA ESPECTRAL PREDETERMINADA.
METODO Y APARATO PARA INSPECCIONAR EL ASPECTO DE ARTICULOS.
(16/04/1993) SE DESCRIBE UN METODO Y UN APARATO PARA INSPECCIONAR EL ASPECTO DE ARTICULOS, MEDIANTE IMAGENES REFLEJADAS DE CUATRO CARAS DIFERENTES DEL ARTICULO , QUE ES TRANSPORTADO POR UNA CINTA , EN VARIOS ELEMENTOS REFLECTORES DISPUESTOS ARRIBA Y EN AMBOS LADOS DEL TRANSPORTADOR PARA TRANSMITIR RESPECTIVAMENTE LAS CUATRO IMAGENES A LA SUPERFICIE SENSIBLE DE UNA CAMARA , REFLEJANDO TAMBIEN LA IMAGEN DE LA CARA SUPERIOR DEL ARTICULO EN LA CAMARA JUNTO CON LAS CUATRO IMAGENES PRECEDENTES, Y EXAMINANDO Y FOTOGRAFIANDO LAS IMAGENES DE LAS CINCO CARAS DIFERENTES DEL ARTICULO FORMADAS EN LA SUPERFICIE SENSIBLE DE LA CAMARA , ESTANDO SINCRONIZADO CADA DESPLAZAMIENTO DEL ARTICULO CON EL TRANSPORTADOR , Y PROCESANDO LAS IMAGENES FOTOGRAFIADAS PARA MEDIR E INSPECCIONAR LAS FORMAS, TAMAÑOS Y CONDICIONES DE LA SUPERFICIE…
SENSOR PARA CONVERTIR UNA DISTANCIA A OPTICA Y ADEMAS A ENERGIA ELECTRICA, Y APARATO DE EXPLORACION DE SUPERFICIE QUE USA EL MISMO.
(01/03/1992) UN CUERPO SENSOR ES FORMADO COMO UNA GUIA DE ONDAS LUMINOSA PARA LUZ LASER . UN LADO DE SALIDA DE LUZ PARA LUZ DIFRACTADA DENTRO DEL SENSOR ES COLOCANDO EN UNA SUPERFICIE DE ELLO ORIENTADA DESDE UN CUERPO ACOMPASADO (M). UNA PARTICULA DE DETECCION ES COLOCADA EN LA SUPERFICIE DEL SENSOR QUE ORIENTA EL CUERPO (M). TIENE UNA FORMA SUBSTANCIALMENTE CONVEXA Y REDONDEADA Y UNA DIMENSION MAYOR QUE ES MAS PEQUEÑA QUE LA LONGITUD DE ONDA DE LA LUZ . EL CUERPO (M) ESTA COLOCADO EN EL CAMPO DE PROXIMIDAD OPTICA DE LA PARTICULA DE DETECCION . EL ULTIMO TIENE UNA DIMENSION MAYOR DE 5 A 500NM. Y PREFERIBLEMENTE DE 20 A 100NM. UN DETECTOR CONVIERTE LA ENERGIA OPTICA DE LA LUZ DIFRACTADA A UNA SEÑAL DE DETECTOR ELECTRICA. UNA PELICULA DELGADA CONTINUA ES PROVISTA COMO UN CALENTADOR PARA EL SENSOR . SUBSTANCIALMENTE CUBRE LA PARTICULA DE DETECCION…
PROCEDIMIENTO PARA DETERMINAR EL RELIEVE DE UNA SUPERFICIE SIN CONTACTO CON ELLA.
(01/12/1991). Solicitante/s: ETAT FRANCAIS REPRESENTE PAR LE MINISTERE DE L'URBANISME ET DU LOGEMENT. Inventor/es: MOREL, GERARD, CAUSSIGNAC, JEAN MARIE.
A PARTIR DE UN RELIEVE DEL PERFIL 2, Y BASADO EN LA CUANTIFICACION DE UN DEFECTO DE PUESTA A PUNTO DE UNA IMAGEN DE UN PUNTO O DE UNA PEQUEÑA SUPERFICIE IRRADIADA POR UN FUENTE 1 DE RADIACION ELECTROMAGNETICA Y SEGUN LAS CUALES EL RELIEVE SE REPRESENTA POR LA RELACCION DE VALORES DE LAS ENERGIAS DE LOS HACES 14, 15 CONSECUENCIA DE LA SEPARACION DE UN UNICO HAZ 11, 12, 13 REFLEJADO POR LA SUPERFICIE ESTUDIADA, SIENDO UNO DE LOS HACES UNA REFERENCIA Y EL OTRO ESTANDO LIMITADO POR UN DIAFRAGMA 6 SIENDO EL HAZ DE MEDIDA 14.
APARATO Y METODO PARA INSPECCION DE SUPERFICIE.
(01/11/1991) APARATO PARA COMPARAR UNA SUPERFICIE DE ENSAYO 23 CON UNA SUPERFICIE DE REFERENCIA 8 QUE COMPRENDE UNOS MEDIOS DETECTORES 16, 17, UN CANAL DE ENSAYO CE PARA RECIBIR RADIACION DESDE LA SUPERFICIE DE ENSAYO 23 Y UN CANAL DE REFERENCIA CR PARA RECIBIR LA RADIACION DESDE LA SUPERFICIE DE REFERENCIA 8. SE DISPONEN UNOS MEDIOS SELECTORES 12 PARA PASAR LA RADIACION DESDE LOS MEDIOS DEL CANAL DE ENSAYO CE Y LOS MEDIOS DEL CANAL DE REFERENCIA CR HASTA LOS MEDIOS DETECTORES. SE DISPONEN MEDIOS DE VARIACION 5 PARA VARIAR LA RADIACION PASADA A LO LARGO DEL CANAL DE ENSAYO CE Y DEL CANAL DE REFERENCIA CR. SE DISPONEN MEDIOS DE CICLADO PARA HACER CICLAR LOS MEDIOS SELECTORES 12 ENTRE UN PRIMER ESTADO EN SE HACE PASAR MAS RADIACION DESDE EL CANAL DE ENSAYO CE QUE…
PROCEDIMIENTO DE MEDICION ININTERRUMPIDA DE LA RUGOSIDAD DE LA SUPERFICIE DE UN PRODUCTO LAMINADO EN FRIO.
(01/08/1990). Solicitante/s: CENTRE DE RECHERCHES METALLURGIQUES CENTRUM VOOR RESEARCH IN DE METALLURGIE ASSOCIATION SANS BUT LUC. Inventor/es: MONFORT, GUY ANTOINE, BRAGARD, ADOLPHE ANDRE.
PROCEDIMIENTO DE MEDICION ININTERRUMPIDA DE LA RUGOSIDAD DE LA SUPERFICIE DE UN PRODUCTO LAMINADO EN FRIO , MEDIANTE UN HAZ DE LASER . PERIODICAMENTE SE INTERRUMPE EL HAZ LASER POR MEDIO DE UN DISCO REFLECTANTE PERFORADO , Y LOS HACES DIRECTO E INDIRECTO SON ENVIADOS A UN MISMO PUNTO (P) DE LA SUPERFICIE BAJO DOS ANGULOS DE INCIDENCIA DIFERENTES. LA MEDICION DE LA ENERGIA LUMINOSA DE LOS DOS HACES REFLEJADOS PERMITE LA DETERMINACION DE LA RUGOSIDAD DE LA SUPERFICIE DEL PRODUCTO. LA LONGITUD DE ONDA DEL HAZ LASER ES, AL MENOS, IGUAL A LA RUGOSIDAD MAXIMA DE LA SUPERFICIE.
APARATO Y METODO PARA INSPECCIONAR LAMINAS DE VIDRIO.
(16/07/1990). Ver ilustración. Solicitante/s: LIBBEY-OWENS-FORD CO.. Inventor/es: MCCOMB, WALTER D., RUDOLPH, ANDREW W., ANGELL, BARBARA L.
APARATO Y METODO PARA INSPECCIONAR LAMINAS DE VIDRIO. UN PAR DE LAMINAS DE VIDRIO DOBLADAS SON SOPORTADAS A LO LARGO DE UNA PARTE MARGINAL PERIFERICA POR UN MONTAJE ENCAJADOR SITUADO DEBAJO DE UN DETECTOR DE INTERSTICIOS O ESPACIOS LIBRES CON OBJETO DE DETECTAR Y PARES ENCAJADOS DE LAMINAS DE VIDRIO. EL DETECTOR DE INTERSTICIOS INCLUYE UNA FUENTE DE HAZ DE LASER DESTINADA A DIRIGIR UN HAZ LUMINOSO SOBRE UNA SUPERFICIE EXTERIOR DE LAS LAMINAS ENCAJADAS SEGUN UNA LINEA GENERALMENTE PERPENDICULAR A UN EJE LONGITUDINAL DE LAS LAMINAS. UN HAZ REFLEJADO EN LAS SUPERFICIES DE LAS LAMINAS ES CAPTADO POR UNA FILA DE CAMARAS QUE GENERAN UNA IMAGEN DE LOS CONTORNOS DE LAS LAMINAS. SE COMPARA LA IMAGEN CON CIERTOS LIMITES PREDETERMINADOS PARA DETECTAR INTERSTICIOS INACEPTABLES ENTRE LAS LAMINAS O DESVIACIONES INACEPTABLES DEL CONTORNO.
VERIFICADOR DE PLANEIDAD POR FRANJAS DE MOIRE.
(01/05/1976). Solicitante/s: PATRONATO DE INVESTIGACION CIENTIFICA Y TECNICA JUAN DE LA CIERVA.
Resumen no disponible.
