Método de inspección de forma, aparato de inspección de forma, y programa.

Un método de inspección de forma que comprende:

una etapa de generación de imagen de sección luminosa,

en la que se aplica luz de láser lineal a una superficie de un objeto desde una fuente de luz de láser (11), y se obtiene, por parte de un aparato (13) de obtención de imagen, una imagen de una línea de sección luminosa basada en la luz de láser sobre la superficie del objeto, y, con ello, se genera una imagen de sección luminosa que es una imagen captada, utilizada para un método de sección luminosa;

una etapa de cálculo de valores indicadores, en la que se calculan un valor indicador de espesor, que indica un espesor de la línea de sección luminosa, y un valor indicador de brillo, que indica un brillo de la línea de sección luminosa, en la imagen de sección luminosa;

una etapa de modificación de ajuste, en la que el ajuste de al menos uno de entre la fuente de luz de láser y el aparato de obtención de imagen se cambia de manera tal, que cada uno del valor indicador de espesor calculado y el valor indicador de brillo calculado se encuentra dentro de un intervalo prescrito establecido de manera única por adelantado; y

una etapa de inspección de forma, en la que se lleva a cabo un tratamiento de imagen sobre la imagen de sección luminosa una vez que cada uno del valor indicador de espesor y el valor indicador de brillo se ha llevado dentro del intervalo prescrito, y, con ello, se inspecciona una forma de la superficie del objeto, en el cual, en la etapa de cálculo de valores indicadores,

se especifica un píxel que proporciona un valor de luminancia máximo en cada una de las direcciones de columna de una imagen de sección luminosa referidas a la superficie del objeto, que son direcciones correspondientes a una dirección de movimiento relativo entre el objeto y la fuente de luz de láser, y, en el caso de que el valor de luminancia máximo de una columna sea un valor de luminancia no menor que un primer umbral, esa columna se toma como una columna de píxeles que se ha de tratar,

la suma del número de píxeles que proporcional el valor de luminancia máximo y el número de píxeles que tienen un valor de luminancia no menor que un segundo umbral con respecto al valor de luminancia máximo de cada una de las columnas de píxeles que se ha de tratar, se toma como el espesor de la línea de sección luminosa en cada una de las columnas de píxeles que se han de tratar, y se calcula el promedio de los espesores de la línea de sección luminosa en todas las columnas de píxeles que se han de tratar, y se toma como el valor indicador de espesor, y

un valor obtenido dividiendo el promedio de valores de luminancia de todos los píxeles que se han utilizado a la hora de calcular el valor indicador de espesor, por un valor de luminancia de salida máximo posiblemente suministrado como salida desde el aparato de obtención de imagen, se toma como el valor indicador de brillo.