Procedimiento y sistema para la calibración de un sistema de visión por ordenador.

Procedimiento para la calibración de un sistema de visión por ordenador tridimensional,

comprendiendo dicho procedimiento las etapas de:

disponer marcas de enfoque bidimensionales (22) en una pieza de calibración (21), de tal manera que la distancia tridimensional mutua entre, como mínimo, dos de todas las marcas de enfoque sea conocida;

medir (11) las coordenadas de imagen bidimensionales de las marcas de enfoque por medio de, como mínimo, dos cámaras al mismo tiempo;

calcular (15) los parámetros de conversión para la conversión de las coordenadas de imagen bidimensionales en coordenadas tridimensionales basándose en las coordenadas de imagen bidimensionales, y en solo la distancia tridimensional mutua entre, como mínimo, dos de las marcas de enfoque.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2002/000929.

Solicitante: Oy Mapvision Ltd.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: Ruosilantie 10 00390 Helsinki FINLANDIA.

Inventor/es: LEIKAS,ESA, HAGGREN,HENRIK.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
  • G06T1/00 G […] › G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06T TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL (especialmente adoptados para aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01C, G06K, G09G, H04N). › Tratamiento de datos de imagen, de aplicación general.
  • G06T7/00 G06T […] › Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario.

PDF original: ES-2785994_T3.pdf

 

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