Preparación de muestras para ionización mediante desorción láser asistida por matriz.

Un método para la preparación de muestras para ionización mediante desorción láser asistida por matriz,

que comprende las etapas:

a) Depositar un material analito (10; 108) que contiene moléculas de analito solubles (14; 112) de interés y componentes insolubles en un sitio de deposición (4; 104a, 104b);

b) Proporcionar un sitio de muestra (6; 116a, 116b) que se encuentra a una distancia del sitio de deposición (4; 104a, 104b) y está pensado como un sustrato para una capa de matriz cristalina;

c) Establecer una comunicación líquida entre el sitio de deposición (4; 104a, 104b) y el sitio de muestra (6; 116a, 116b), promoviendo así una transferencia de moléculas de analito solubles (14; 112) de interés desde el sitio de deposición (4; 104a, 104b) al sitio de muestra (6; 116a, 116b) por difusión debido a un gradiente de concentración en los volúmenes comunicantes de líquido en el sitio de deposición (4; 104a, 104b) y el sitio de muestra (6; 116a, 116b) mientras se impide generalmente que los componentes insolubles se transfieran desde el sitio de deposición (4; 104a, 104b) al sitio de muestra (6; 116a, 116b); y

d) Suspender la comunicación líquida después de un período de tiempo predeterminado.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E11009640.

Solicitante: Bruker Daltonik GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Fahrenheitstrasse 4 28359 Bremen ALEMANIA.

Inventor/es: MAIER, THOMAS, DR..

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N1/04 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › en estado sólido, p. ej. por corte con herramienta.
  • G01N1/40 G01N 1/00 […] › Concentración de muestras.
  • H01J49/04 ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas. › Disposiciones para introducir o extraer muestras antes de ser analizadas, p. ej. cierres estancos; Disposiciones para el ajuste externo de componentes electronópticos o ionópticos.

PDF original: ES-2742324_T3.pdf

 

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