Dispositivo de muestreo de gas.
Método de muestreo de gases que comprende etapas de:
extraer gases mediante una sonda (1) que tiene una boquilla de expansión (12),
transmitir los gases extraídos a un dispositivo de análisis de gas extraído (EXD) a través de una primera tubería (2),
Disminuir la presión de los gases extraídos en la primera tubería y en el dispositivo de análisis, disminuir la presión de los gases extraídos que se realiza aspirando los gases extraídos en la primera tubería por una segunda tubería (4) que se comunica con la primera tubería a través del dispositivo de análisis, disminuir la presión de los gases extraídos que se realiza para mantener en la primera y segunda tubería y en el dispositivo de análisis una presión capaz de mantener el punto de rocío de los gases extraídos en un valor inferior a la temperatura de la primera y segunda tubería y del dispositivo de análisis,
caracterizado porque la boquilla de expansión (12) es una boquilla calibrada de tipo sónico, el dispositivo comprende etapas de:
calentar la primera y segunda tubería y el dispositivo de análisis para alcanzar una primera temperatura igual a un máximo de dos docenas de grados Celsius si la temperatura de la primera y segunda tubería y del dispositivo de análisis es inferior a la primera temperatura, y
Regular una potencia de aspiración de los gases extraídos, aplicada a la segunda tubería, para mantener la presión en la primera tubería constante en un valor inferior al tercio de la presión de los gases extraídos aguas arriba de la boquilla de expansión.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FR2009/001333.
Solicitante: Ap2E.
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: Les Méridiens Bât A - La Duranne 240 Rue Louis de Broglie 13793 Aix en Provence Cedex 3 FRANCIA.
Inventor/es: LONIGRO,LUCIEN, CHOLAT,PIERRE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/22 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › en estado gaseoso.
- G01N21/39 G01N […] › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › utilizando lasers con longitud de onda regulable.
- H01J49/04 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas. › Disposiciones para introducir o extraer muestras antes de ser analizadas, p. ej. cierres estancos; Disposiciones para el ajuste externo de componentes electronópticos o ionópticos.
PDF original: ES-2743652_T3.pdf
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