Método para medir una respuesta de muestra espectral.

Método de medición de una respuesta espectral de una muestra (1),

que comprende las etapas siguientes:

- generar una luz de sonda que presenta un espectro primario y que comprende unos impulsos de luz de sonda (2) que se generan con un dispositivo de fuente de láser de fs (10) y que presentan una duración de impulso igual o inferior a 100 fs, en el que el espectro primario abarca un intervalo de longitudes de onda que incluye unas longitudes de onda de por lo menos 3 μm,

- irradiar la muestra (1) con la luz de sonda, que incluye una interacción de la luz de sonda y la muestra (1), y - detectar por resolución espectral la luz de sonda que presenta un espectro modificado, que se desvía del espectro primario como consecuencia de la interacción de la luz de sonda y la muestra (1), siendo dicho espectro modificado característico de la respuesta espectral de la muestra (1), en el que

- la etapa de detectar comprende muestrear en el dominio temporal una forma temporal de los impulsos de luz de sonda (2) después de la interacción con la muestra (1) y la respuesta espectral de la muestra (1) se obtiene sobre la base de una transformación de Fourier de la forma temporal de los impulsos de luz de sonda (2) después de la interacción con la muestra (1),

caracterizado por que

- la muestra comprende una muestra biológica (1),

- los impulsos de luz de sonda (2) se crean con una potencia media por encima de 50 mW, y

- después de la interacción con la muestra biológica (1), cada uno de los impulsos de luz de sonda (2) comprende un impulso principal correspondiente al espectro primario de los impulsos de luz de sonda y una estela temporal que es inducida por absorción de la muestra biológica (1) y que sigue al impulso principal, en el que el muestreo en el dominio temporal de la forma temporal de los impulsos de luz de sonda (2) incluye muestrear la estela temporal.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14004401.

Solicitante: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FORDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V..

Inventor/es: KRAUSZ, FERENC, APOLONSKIY,ALEXANDER, PUPEZA,IOCHAIM, FILL,ERNST.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N21/03 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Detalles estructurales de las cubetas.
  • G01N21/35 G01N 21/00 […] › utilizando la luz infrarroja (G01N 21/39 tiene prioridad).
  • G01N21/3504 G01N 21/00 […] › para el análisis de los gases, p. ej. análisis multi-gas.
  • G01N21/3563 G01N 21/00 […] › para el análisis de sólidos; Preparación de muestras para ello.
  • G01N21/3577 G01N 21/00 […] › para el análisis de líquidos, p. ej. agua contaminada.
  • G01N21/3586 G01N 21/00 […] › por espectroscopia de terahercios dentro del dominio de tiempo [THz-TDS].
  • H01S3/00 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN LA EMISION ESTIMULADA.Láser, es decir, dispositivos para la producción, amplificación, modulación, demodulación o el cambio de frecuencia utilizando la emisión estimulada de ondas infrarrojas, visibles o ultravioletas (láseres de semiconductor H01S 5/00).

PDF original: ES-2712200_T3.pdf

 

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