Ionización de electrones (EI) utilizando diferentes energías EI.

Un método para adquirir datos espectrales de masas, comprendiendo el método:



(a) producir un haz de electrones en una fuente de EI de ionización de electrones (304, 400) en una primera energía de electrones, comprendiendo la fuente una cámara de ionización (508) entre una fuente de electrones (416) y un conjunto de lente (420), en donde la fuente de electrones (416) incluye un cátodo termiónico (538) colocado entre un reflector de electrones (544) y un repelente de iones (540), en donde el conjunto de lente (420) incluye un extractor (548) y un primer elemento de lente (550) para reflejar el haz de electrones hacia atrás dentro de la cámara de ionización (508);

(b) introducir una muestra que comprende un analito de interés dentro de la cámara de ionización (508) de la fuente de EI;

(c) irradiar la muestra con el haz de electrones en la primera energía de electrones para producir primeros iones analito a partir del analito de interés;

(d) transmitir los primeros iones analito a un analizador de masas (312) para generar un primer espectro de masas correlacionado con la primera energía de electrones;

(e) ajustar la energía de electrones a una segunda energía de electrones diferente de la primera energía de electrones;

(f) irradiar la muestra con el haz de electrones en la segunda energía de electrones para producir segundos iones analito a partir del analito de interés; y

(g) transmitir los segundos iones analito al analizador de masas para generar un segundo espectro de masas correlacionado con la segunda energía de electrones,

en donde la primera y la segunda energía de electrones son establecidas por los voltajes aplicados al repelente de iones (540) y al reflector de electrones (544); en donde el método también comprende:

establecer una diferencia de potencial entre el cátodo termoiónico (538) y el repelente de iones (540);

mantener la diferencia de potencial a un valor fijo a medida que cambia el voltaje en el cátodo termoiónico (538) o

el repelente de iones (540), ajustando el voltaje en el otro componente;

hacer que el voltaje en el primer elemento de lente (550) siga el voltaje del cátodo para optimizar la función reflectora de electrones del primer elemento de lente (550), aplicando un voltaje de compensación adicional añadido al voltaje del cátodo aplicado.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14168583.

Solicitante: AGILENT TECHNOLOGIES, INC..

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: A Delaware Corporation 5301 Stevens Creek Blvd. Santa Clara, California 95051 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: PREST,HARRY F, KERNAN,JEFFREY T, WANG,MINGDA.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • H01J49/00 ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas.
  • H01J49/14 H01J […] › H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas. › que utilizan un bombardeo de partículas, p. ej. cámaras de ionización.

PDF original: ES-2773134_T3.pdf

 

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