Instrumento de medida y método para determinación de las propiedades de un artículo y su superficie.

Un dispositivo de medida (100, 150, 180) para la determinación de una o más propiedades de un objeto medido por medio de una radiación óptica,

en donde el dispositivo de medida comprende:

- al menos una fuente de radiación óptica (101) para emitir radiación óptica (102) hacia el objeto medido, y

- al menos un detector (107) para recibir la radiación reflejada desde el objeto medido y para generar una señal eléctrica proporcional a su intensidad,

en donde, el dispositivo comprende, además

- una unidad (108a) de procesamiento de radiación óptica, la cual está ajustada para dividir la radiación óptica (102) emitida por la fuente óptica en longitudes de onda (103, 104a, 104b, 104c) separadas y para dirigir dichas longitudes de onda separadas (103) hacia el objeto medido (109) en una dirección que difiere de la normal (110) de la superficie que está siendo medida de forma que al menos las longitudes de onda más corta y más larga (104a, 104b, 104c) de dichas longitudes de onda sean enfocadas sobre lados diferentes (109a, 109b) de la superficie del objeto medido y hacia diferentes alturas (109a, 109b) en la dirección de la normal (110) de la superficie (109) que está siendo medida,

- una unidad (108b) de procesamiento de radiación óptica reflejada la cual está ajustada para recibir una radiación óptica (106) reflejada desde el objeto medido (109) al menos en la dirección de una reflexión especular (105), la cual difiere de la normal (110) de la superficie que está siendo medida (109) y para dirigir la radiación óptica recibida hacia dicho detector (107), en donde el dispositivo de medida (100, 150, 180) está ajustado para analizar una señal eléctrica producida por el detector y proporcional a la intensidad de la radiación enfocada hacia el mismo, caracterizado por que el dispositivo de medida está ajustado, además, para determinar al menos una característica que describe el brillo de la superficie del objeto medido, tal como grado de brillo, basándose en la intensidad de aquella longitud de onda cuyo punto de enfoque estaba situado (104a, 104b, 104c) sobre la superficie medida (109) y, así, es reflejada desde ese punto hacia el detector (107) como la longitud de onda más fuerte en la geometría especular.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2010/050778.

Solicitante: Focalspec Oy.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: Elektroniikkatie 13 90590 Oulu FINLANDIA.

Inventor/es: KERÄNEN,HEIMO, NIEMELÄ,KARRI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/06 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida del espesor.
  • G01N21/41 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Refracción; Propiedades ligadas a la fase, p. ej. longitud del recorrido óptico (G01N 21/21 tiene prioridad).
  • G01N21/57 G01N 21/00 […] › midiendo el brillo.

PDF original: ES-2743461_T3.pdf

 

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