Dispositivo y sistema de tratamiento para la medición de la movilidad y la densidad de carga laminar en materiales laminares conductores.

Un dispositivo para la medición de la movilidad y la densidad de carga laminar en materiales laminares conductores que comprende:



una fuente (15) de microondas;

un primer guiaondas situado para recibir potencia de microondas de dicha fuente de microondas;

una montura ajustable (60) adaptada para colocar de manera ajustable un elemento de material laminar en una pluralidad de emplazamientos de medición para recibir una potencia de microondas transmitida desde dicho primer guiaondas;

un imán (130) situado para inducir un campo magnético en el emplazamiento de ensayo;

un primer detector (18) para detectar la potencia de la fuente de potencia de microondas;

un segundo detector (23) para detectar la potencia de la potencia de microondas reflejada desde un elemento de material laminar en un emplazamiento de medición entre la pluralidad de emplazamientos de medición;

un tercer detector para detectar la potencia de microondas de efecto Hall,

en el que dicha montura ajustable comprende, además, un primer efector terminal adaptado para colocar el elemento de material laminar en la pluralidad de emplazamientos de medición para recibir una potencia de microondas transmitida desde dicho primer guiaondas, siendo amovible dicho primer efector terminal entre una posición de ajuste y una posición de ensayo,

en el que dicha posición de ajuste es una posición en la que la posición rotacional del elemento de material laminar es ajustable de manera selectiva, y dicha posición de ensayo es una posición en la que se puede llevar a cabo al menos un ensayo sobre el elemento de material laminar usando el primer guiaondas,

en el que el dispositivo comprende además un rotador-elevador para engranar dicho elemento de material laminar y moverlo a lo largo de un segundo eje sustancialmente perpendicular a un eje longitudinal de dicho primer efector terminal, estando configurado el rotador-elevador, además para rotar alrededor del segundo eje usando una unidad motriz,

en el que cada uno de dicho primer efector terminal y de dicho rotador-elevador comprenden al menos un elemento de vacío para engranar dicho elemento de material laminar,

en el que el rotador-elevador es operable cuando dicho elemento de material laminar está en dicha posición de ajuste, elevando el rotador-elevador dicho elemento de material laminar de dicho primer efector terminal para su rotación cuando dicho material laminar está en dicha posición de ajuste,

en el que dicho primer efector terminal engrana dicho elemento de material laminar en dicha posición de ensayo mientras se lleva a cabo dicho al menos un ensayo sobre el elemento de material laminar usando el primer guiaondas.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2005/028254.

Solicitante: LEHIGHTON ELECTRONICS INC.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: P.O. BOX 328 LEHIGHTON, PA 18325-0328 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: MURPHY,Steven C, BLEW,AUSTIN R, BRONKO,MICHAEL W, NGUYEN,DANH, EBERHARDT,NIKOLAI, LICINI,JEROME C, ZUIDERVLIET,WILLIAM.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N22/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Investigación o análisis de materiales por la utilización de microondas (G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 24/00 tienen prioridad).
  • G01R27/26 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 27/00 Dispositivos para realizar medidas de la resistencia, reactancia, impedancia, o de características eléctricas derivadas. › Medida de la inductancia o de la capacitancia; Medida del factor de calidad, p. ej. utilizando el método por resonancia; Medida del factor de pérdidas; Medida de constantes dieléctricas.
  • G01R31/26 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).

PDF original: ES-2642836_T3.pdf

 

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