Detección de fuga de corriente a través de optointerruptores.
Aparato (40) para probar un optointerruptor (36), que comprende:
un primer reóstato de detección (46) acoplado entre una fuente de potencia (42) y una entrada lateral de corriente del optointerruptor (36);
un segundo reóstato de detección (56) acoplado a una salida lateral de corriente del optointerruptor (36);
un circuito de prueba (70), que está acoplado para detectar una primera corriente que fluye a través del primer reóstato de detección (46) y una segunda corriente que fluye a través del segundo reóstato de detección (56) y para generar una señal de prueba en respuesta a una relación entre la primera y la segunda corriente; y
un controlador (38) que está acoplado para recibir la señal de prueba y está configurado para incrementar un contador después de determinar que la señal de prueba ha excedido un límite predeterminado, y para reducir el contador después de determinar que la señal de prueba está por debajo del límite, donde el controlador está configurado para actuar de manera protectora desconectando el optointerruptor de la fuente de potencia cuando el contador alcanza un umbral predeterminado
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E09250136.
Solicitante: BIOSENSE WEBSTER, INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 3333 DIAMOND CANYON ROAD DIAMOND BAR, CA 91765 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: MEYER,EITAN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R27/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 27/00 Dispositivos para realizar medidas de la resistencia, reactancia, impedancia, o de características eléctricas derivadas. › Medida de resistencias, reactancias, impedancias reales o complejas, o de otras características bipolares derivadas, p. ej. constante de tiempo (midiendo solamente el ángulo de la fase G01R 25/00).
- G01R31/02
- G01R31/26 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
- G01R31/27 G01R 31/00 […] › Ensayos de dispositivos sin extraerlos físicamente del circuito del que forman parte, p. ej. compensación de efectos debidos a los elementos circundantes.
- G01R31/28 G01R 31/00 […] › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
PDF original: ES-2707821_T3.pdf
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