Aparato y método de prueba de células solares.

Un aparato de prueba de células solares (200) que comprende:

un iluminador (202) para dirigir la energía luminosa sobre una célula solar (204) bajo prueba;

y

un dispositivo (214) para colocar selectivamente diferentes filtros de una multiplicidad de filtros (216) en una trayectoria óptica (218) entre el iluminador y la célula solar bajo prueba para al menos uno de medir el rendimiento y detectar cualquier defecto en la célula solar, comprendiendo la multiplicidad de filtros que comprende un primer conjunto de filtros (216a), estando cada filtro del primer conjunto de filtros adaptado para pasar un porcentaje predeterminado de intensidad de la energía luminosa del iluminador a la célula solar bajo prueba, y un segundo conjunto de filtros (216b) para probar la célula solar bajo diferentes espectros de luz,

en el que el dispositivo (214) para situar selectivamente los diferentes filtros (216) comprende:

una rueda de filtro giratoria (222) con la multiplicidad de filtros (216) montados en la rueda de filtro giratoria (222); y

un motor (224) para girar la rueda de filtro giratoria (222), incluyendo el motor (224) un codificador (226) para determinar una ubicación o posición precisa de la rueda de filtro giratoria (222) y cada uno de la multiplicidad de filtros (216),

en el que multiplicidad de filtros (216) comprende además un filtro de bloqueo de luz (316) para realizar una prueba de electroluminiscencia de la célula solar para detectar la emisión de luz de la célula solar (204) en respuesta a una corriente eléctrica de un amperaje predeterminado que se aplica a la célula solar.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2012/038849.

Solicitante: THE BOEING COMPANY.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 100 NORTH RIVERSIDE PLAZA CHICAGO, IL 60606-1596 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: JUNGWIRTH,DOUGLAS R, QUEZADA,EMILIO, CAMPBELL,GREGORY A, ERMER,JAMES H, JONES,RUSSELL K.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • F21S8/00 MECANICA; ILUMINACION; CALEFACCION; ARMAMENTO; VOLADURA.F21 ILUMINACION.F21S DISPOSITIVOS DE ILUMINACION NO PORTÁTILES; SUS SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE ILUMINACIÓN DE VEHÍCULOS ESPECIALMENTE ADAPTADOS PARA EL EXTERIOR DEL VEHÍCULO.Dispositivos de iluminación destinados a una instalación fija (F21S 9/00, F21S 10/00 tienen prioridad; utilizando una tira o ristra de fuentes de luz F21S 4/00).
  • G01N21/95 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › caracterizada por el material o la forma del objeto que se va a examinar (G01N 21/89 - G01N 21/91, G01N 21/94 tiene prioridad).
  • G01R31/26 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
  • G01R31/308 G01R 31/00 […] › utilizando radiaciones electromagnéticas no ionizantes, p. ej. radiaciones ópticas.

PDF original: ES-2818376_T3.pdf

 

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