Disposición de circuito y procedimiento para generar una tensión de ensayo e instrumento de ensayo para determinar un factor de pérdidas que contiene la disposición de circuito.

Disposición de circuito (1) para generar una tensión de ensayo (UP) para examinar un objeto de ensayo (2) que comprende

- dos fuentes de alta tensión (3,

4) para generar una alta tensión positiva y una negativa (U1, U2) de amplitud variable en sus respectivas salidas (5, 6),

- una disposición de interruptores de alta tensión (7) dispuesta entre las salidas (5, 6) de las dos fuentes de alta tensión (3, 4) y el objeto de ensayo (2), que se puede conmutar adecuadamente para la carga y descarga sucesivas del objeto de ensayo (2), donde está prevista una regulación (8) que mide la tensión de ensayo actual (UP) en el objeto de ensayo (2) y actúa sobre la disposición de interruptores de alta tensión (7) en función de la tensión de ensayo medida (UP) para la carga y descarga definidas del objeto de ensayo (2),

caracterizada por

que la regulación (8) no actúa sobre las dos fuentes de alta tensión (3, 4) y

que está previsto un control separado (14) para las dos fuentes de alta tensión (3, 4), donde el control (14) genera una señal de reloj (T) independiente de la tensión (UP) en el objeto de ensayo (2), de modo que por las fuentes de alta tensión (3, 4) se proporciona una alta tensión (U1, U2) sincronizada, predefinida y no influenciada por el control (8).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2013/003762.

Solicitante: b2 electronics GmbH.

Nacionalidad solicitante: Austria.

Dirección: RIEDSTRASSE 1 6833 KLAUS AUSTRIA.

Inventor/es: BALDAUF,STEFAN, BLANK,RUDOLF, FURXER,MICHAEL.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R27/26 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 27/00 Dispositivos para realizar medidas de la resistencia, reactancia, impedancia, o de características eléctricas derivadas. › Medida de la inductancia o de la capacitancia; Medida del factor de calidad, p. ej. utilizando el método por resonancia; Medida del factor de pérdidas; Medida de constantes dieléctricas.
  • G01R31/12 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
  • G01R31/14 G01R 31/00 […] › Circuitos para este efecto.
  • H02M1/00 ELECTRICIDAD.H02 PRODUCCION, CONVERSION O DISTRIBUCION DE LA ENERGIA ELECTRICA.H02M APARATOS PARA LA TRANSFORMACION DE CORRIENTE ALTERNA EN CORRIENTE ALTERNA, DE CORRIENTE ALTERNA EN CORRIENTE CONTINUA O DE CORRIENTE CONTINUA EN CORRIENTE CONTINUA Y UTILIZADOS CON LAS REDES DE DISTRIBUCION DE ENERGIA O SISTEMAS DE ALIMENTACION SIMILARES; TRANSFORMACION DE UNA POTENCIA DE ENTRADA EN CORRIENTE CONTINUA O ALTERNA EN UNA POTENCIA DE SALIDA DE CHOQUE; SU CONTROL O REGULACION (transformadores H01F; convertidores dinamoeléctricos H02K 47/00; control de los transformadores, reactancias o bobinas de choque, control o regulación de motores, generadores eléctricos o convertidores dinamoeléctricos H02P). › Detalles de aparatos para transformación.
  • H02M1/088 H02M […] › H02M 1/00 Detalles de aparatos para transformación. › para el control simultáneo de dispositivos semiconductores conectados en serie o en paralelo.
  • H02M3/335 H02M […] › H02M 3/00 Transformación de una potencia de entrada en corriente continua en una potencia de salida en corriente continua. › utilizando solamente dispositivos semiconductores.

PDF original: ES-2778030_T3.pdf

 

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