Dispositivo optoelectrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o un sistema de lentes.

Dispositivo optoelectrónico y métodos para determinar parámetros ópticos de una lente o un sistema de lentes.



La presente invención se refiere a un dispositivo optoelectrónico para determinar parámetros ópticos de una lente, un sistema de lentes o un sistema óptico formador de imágenes 5, como son la posición de los planos principales y de los planos focales y las distancias focales, y a métodos para determinar estos parámetros. El dispositivo comprende un elemento de colimación 2, una red de difracción 4 de periodo p conocido, un sistema de detección 6, que puede ser una matriz de fotodetectores lineal o bidimensional CCD o CMOS, uno o más elementos de procesamiento de datos 7 y un dispositivo de desplazamiento 8, por ejemplo un motor lineal, para desplazar el sistema de detección 6 a lo largo del eje óptico del dispositivo. La lente, sistema de lentes o sistema óptico formador de imagen incógnita 5 se coloca entre la red de difracción 4 y el sistema de detección 6.

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201600605.

Solicitante: UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MADRID.

Inventor/es: SANCHEZ-BREA,LUIS MIGUEL, TORCAL MILLA,Francisco José.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01M11/02 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar. › Ensayos de las propiedades ópticas.

PDF original: ES-2600503_A1.pdf

 

PDF original: ES-2600503_B2.pdf

 

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