Sistema y método de microscopio para obtener datos de muestra normalizados.
Un sistema de microscopio para obtener una medida cuantitativa normalizada de datos de muestra objetivo,
obtenidos a partir de una medición de intensidad, cuando se representa la imagen de una muestra objetivo por un microscopio (100) que tiene una fuente de luz de excitación (102), un medio óptico (104), un medio de captura de imágenes (112), y un medio de almacenamiento de datos (116), dispuestos conjuntamente para obtener una imagen de la muestra objetivo (107),
comprendiendo el sistema de microscopio:
el microscopio (100) que tiene la fuente de luz de excitación (102), el medio óptico (104), el medio de captura de imágenes (112), y el medio de almacenamiento de datos (116), dispuestos conjuntamente para obtener la imagen de la muestra objetivo (107);
un medio para obtener para la fuente de luz de excitación (102), un factor de corrección de fuente de luz, que comprende un instrumento de calibración y un medio para conmutar el instrumento de calibración dentro y fuera de una trayectoria óptica para permitir que se obtenga una medición de intensidad de luz relativa sustancialmente de manera simultánea con la imagen de muestra objetivo;
un medio para iluminar con la fuente de luz de excitación (102) el instrumento de calibración;
en el que el instrumento de calibración comprende una superficie de calibración colocada a lo largo de una trayectoria óptica para la iluminación de dispersión sustancialmente uniforme desde la fuente de luz de excitación hacia el medio de captura de imágenes (112) y comprende además un espejo dicromático colocado para reflejar la iluminación desde la fuente de luz de excitación a lo largo de una trayectoria óptica a través del medio óptico (104) hacia la muestra objetivo y para transmitir al menos una parte de la iluminación desde la muestra objetivo hacia el medio de captura de imágenes (112), en el que la superficie de calibración bloquea temporalmente la trayectoria óptica entre el espejo dicromático y el medio óptico (104) durante la calibración y dispersa una parte sustancial de la luz de excitación reflejada a través del espejo dicromático hacia el detector;
un medio para aplicar el factor de corrección de fuente de luz a los datos de muestra objetivo, obteniendo de este modo datos de muestra objetivo medidos cuantitativos normalizados, que se normalizan con respecto a la variabilidad de intensidad de luz temporal de la fuente de luz de excitación (102).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2008/007399.
Solicitante: NOVARTIS AG.
Nacionalidad solicitante: Suiza.
Dirección: LICHTSTRASSE 35 4056 BASEL SUIZA.
Inventor/es: PINARD,Robert, TEDESCHI,Gregory,R, CHRISTIANSEN,JASON, ZERKOWSKI,MACIEJ P.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/64 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Fluorescencia; Fosforescencia.
PDF original: ES-2599902_T3.pdf
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