Disposición de análisis para espectrómetro de partículas.
Un método para determinar al menos un parámetro relacionado con partículas cargadas emitidas desde una muestra emisora de partículas (11),
que comprende las etapas de:
formar un haz de partículas de dichas partículas cargadas y transportar las partículas entre dicha muestra emisora de partículas (11) y una entrada (8) de una región de medición (3) por medio de un sistema de lentes (13) que tiene un eje óptico sustancialmente recto (15);
desviar el haz de partículas en al menos una primera dirección de coordenadas (x, y) perpendicular al eje óptico del sistema de lentes antes de la entrada del haz de partículas en la región de medición,
detectar las posiciones de dichas partículas cargadas en dicha región de medición, siendo las posiciones indicativas de dicho al menos un parámetro,
en donde la detección de las posiciones de las partículas cargadas implica la detección de las posiciones en dos dimensiones, una de las cuales es indicativa de las energías de las partículas y una de las cuales es indicativa de las direcciones de partida de las partículas,
caracterizado por que
el método comprende además la etapa de desviar el haz de partículas en la misma al menos primera dirección de coordenadas (x, y) al menos una segunda vez antes de la entrada del haz de partículas en la región de medición y controlar las desviaciones del haz de partículas de modo que una parte predeterminada (A, B) de la distribución angular (39) de las partículas que forman el haz de partículas atraviese la entrada de la región de medición, en donde se registran sucesivamente una serie de partes predeterminadas diferentes.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14185601.
Solicitante: Scienta Omicron AB.
Nacionalidad solicitante: Suecia.
Dirección: Box 15120 750 15 Uppsala SUECIA.
Inventor/es: WANNBERG,BJÖRN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/227 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › Medición del efecto fotoeléctrico, p. ej. microscopía de emisión de fotoelectrones [PEEM].
- H01J37/05 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Dispositivos electronópticos o ionópticos para la separación de electrones o de iones en función de su energía (tubos separadores de partículas H01J 49/00).
- H01J49/06 H01J […] › H01J 49/00 Espectrómetros de partículas o tubos separadores de partículas. › Dispositivos electronópticos o ionópticos (H01J 49/04 tiene prioridad).
- H01J49/48 H01J 49/00 […] › que utilizan analizadores electrostáticos, p. ej. sector cilíndrico, filtro de Wien.
PDF original: ES-2602055_T3.pdf
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