FILTRO DE ENERGIA, MICROSCOPIO DE TRANSMISION Y PROCEDIMIENTO DE FILTRADO DE ENERGIA ASOCIADO.
LA INVENCION SE REFIERE A UN FILTRO DE ENERGIA QUE RECIBE UN HAZ ELECTRONICO (72) ORIENTADO SEGUN UN EJE OPTICO (5).
EL FILTRO COMPRENDE UN SISTEMA DEFLECTOR (30) QUE DESVIA EN UN PLANO DE DISPERSION QUE NO INCLUYE EL EJE OPTICO (5), EL HAZ RECIBIDO (72) Y UN SISTEMA DISPERSIVO (40) QUE GUIA EL HAZ ENVIADO POR EL SISTEMA DEFLECTOR EN UNA TRAYECTORIA OPTICA(80) INSCRITA EN EL PLANO DE DISPERSION Y QUE VUELVE AL SISTEMA DEFLECTOR. EL SISTEMA DEFLECTOR DEVUELVE EN ALINEAMIENTO CON EL EJE OPTICO EL HAZ PROCEDENTE DEL SISTEMA DISPERSIVO. EL SISTEMA DEFLECTOR ESTA FORMADO POR UN SOLO ELEMENTO DEFLECTOR QUE GARANTIZA A LA IDA Y A LA VUELTA DESVIACIONES INVERSAS DEL HAZ. APLICACION EN LA MICROSCOPIA ELECTRONICA CON TRANSMISION.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS).
Nacionalidad solicitante: Francia.
Dirección: 3 RUE MICHEL ANGE,75794 PARIS CEDEX 16.
Inventor/es: JOUFFREY, BERNARD, SOUCHE, CECILE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 3 de Septiembre de 1997.
Fecha Concesión Europea: 13 de Junio de 2001.
Clasificación Internacional de Patentes:
- H01J37/05 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 37/00 Tubos de descarga provistos de medios o de un material para ser expuestos a la descarga, p. ej. con el propósito de sufrir un examen o tratamiento (H01J 33/00, H01J 40/00, H01J 41/00, H01J 47/00, H01J 49/00 tienen prioridad). › Dispositivos electronópticos o ionópticos para la separación de electrones o de iones en función de su energía (tubos separadores de partículas H01J 49/00).
Países PCT: Bélgica, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Oficina Europea de Patentes.
Patentes similares o relacionadas:
Dispositivo para modular la intensidad de un haz de partículas cargadas, método para desviar un haz de partículas cargadas desde el eje de emisión con dicho dispositivo y sistema que incluye este dispositivo, del 22 de Enero de 2020, de Pantechnik: Un dispositivo para modular la intensidad de un haz de partículas cargadas emitido a lo largo de un eje (A0), que comprende: - 4×N sistemas de desviación consecutivos […]
Disposición analizadora para espectrómetro de partículas, del 29 de Octubre de 2018, de Scienta Omicron AB: Un metodo para determinar al menos un parametro relacionado con particulas cargadas emitidas desde una muestra emisora de particulas , que comprende las […]
Disposición de análisis para espectrómetro de partículas, del 19 de Octubre de 2016, de Scienta Omicron AB: Un método para determinar al menos un parámetro relacionado con partículas cargadas emitidas desde una muestra emisora de partículas , que comprende las […]
Filtro de energía por imágenes para partículas cargadas eléctricamente y espectroscopio que incluye el mismo, del 16 de Abril de 2014, de Funnemann, Dietmar: Filtro de energía por imágenes para partículas eléctricamente cargadas, con un analizador de energía toroidal , preferentemente con un analizador hemisférico, con un […]
MONOCROMADOR TIPO WIEN CON CORRECCION DE ABERRACIONES, del 1 de Noviembre de 2007, de UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID: Monocromador tipo Wien con corrección de aberraciones.#Consta de un filtro formado por doce polos que se extienden paralelos al eje óptico, cada polo está construido […]
MONOCROMADOR TIPO WIEN CON CORRECION DE ABERRACIONES, del 1 de Noviembre de 2005, de UNIVERSIDAD COMPLUTENSE DE MADRID: Monocromador tipo Wien con corrección de aberraciones. La invención mejora los dos parámetros más característicos de los filtros de Wien: resolución […]