ANALISIS DE PARTICULAS CARGADAS.
Un analizador de partículas cargadas que comprende una fuente (1) de partículas cargadas y un detector (3) de partículas cargadas separado de la fuente (1) e inmerso con la fuente (1) en un gas ionizable,
comprendiendo el detector al menos un par de electrodos (4), caracterizado porque el par de electrodos (4) están separados por una distancia que es substancialmente menor que la separación entre la fuente (1) y el detector (3), los electrodos del par (4) están mantenidos a diferentes potenciales, y la fuente (1) es mantenida a un potencial diferente de los potenciales de los electrodos (4), estando los potenciales seleccionados de manera que las partículas cargadas emitidas por la fuente (1) son atraídas de la fuente (1) hacia cada uno del par de electrodos (4), y de manera que las partículas cargadas adyacentes al detector (3) son aceleradas hasta unas energías suficientes para ionizar el gas.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: COUNCIL FOR THE CENTRAL LABORATORY OF THE RESEARCH COUNCILS.
Nacionalidad solicitante: Reino Unido.
Dirección: DARESBURY LABORATORY, DARESBURY,WARRINGTON , CHESHIRE WA4 4AD.
Inventor/es: DERBYSHIRE, GARETH, E., BATEMAN, EDMOND, J.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 3 de Febrero de 1998.
Fecha Concesión Europea: 15 de Enero de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/227 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › Medición del efecto fotoeléctrico, p. ej. microscopía de emisión de fotoelectrones [PEEM].
- H01J47/06 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01J TUBOS DE DESCARGA ELECTRICA O LAMPARAS DE DESCARGA ELECTRICA (espinterómetros H01T; lámparas de arco, con electrodos consumibles H05B; aceleradores de partículas H05H). › H01J 47/00 Tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas (tubos de descarga fotoeléctrica que no implican la ionización de un gas H01J 40/00). › Tubos contadores proporcionales.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Oficina Europea de Patentes, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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