PROCEDIMIENTO DE ANÁLISIS FUNCIONAL DE SEMICONDUCTORES ALIMENTADOS INALÁMBRICAMENTE.
Se describe un procedimiento para analizar semiconductores alimentados inalámbricamente en estado de condiciones de trabajo,
es decir el análisis es funcional y permite obtener datos reales del componente en aquellas condiciones en las que será sometido cuando esté funcionando. Se basa en la toma de datos relacionados con las temperaturas que se producen en el semiconductor cuando se encuentra operativo, es decir se toman datos referidos a la hipertermia inducida por el paso de corriente por el semiconductor en funcionamiento. La señal que alimenta el componente semiconductor se somete, mientras se está alimentando y se están tomando datos de su temperatura, a una serie de modulaciones que generan una serie de efectos en su superficie, nos permite ver reacciones a las modulaciones y obtener datos como fallos o puntos de interés relacionados con el semiconductor mientras se encuentra en funcionamiento.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2016/070003.
Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC).
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: VELLVEHI HERNANDEZ, MIQUEL, JORDA SANUY,XAVIER, PERPIÑÁ GIRIBET,Xavier, LEON CERRO,Javier.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/88 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.
- G01R31/28 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
- H04N5/30 ELECTRICIDAD. › H04 TECNICA DE LAS COMUNICACIONES ELECTRICAS. › H04N TRANSMISION DE IMAGENES, p. ej. TELEVISION. › H04N 5/00 Detalles de los sistemas de televisión (Detalles de los dispositivos de análisis o sus combinaciones con la producción de la tensión de alimentación H04N 3/00). › Transformación de información luminosa o análoga en información eléctrica (H04N 5/222 tiene prioridad; detalles de los analizadores H04N 3/00).
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