DISPOSITIVO PARA CARACTERIZACIÓN DE MUESTRAS POR MEDIO DE DIFRACCIÓN O DE DISPERSIÓN DE RAYOS X.

Permite la caracterización de muestras sometidas a condiciones de entorno controlado,

tales como humedad, presión, temperatura controladas, o atmósfera reductora, inerte, oxidante, etc. por medio de difracción/dispersión de rayos x sin necesidad de emplear portamuestras (6) especialmente adaptados. Comprende una fuente (2) de rayos x, un colimador-focalizador (3) y un detector (4). Comprende adicionalmente dos compartimentos (7) sometidos a vacío que definen una cavidad (5) adaptada para alojar la muestra, limitada dicha cavidad (5) por unos medios de cierre (11, 12, 14) herméticos y estancos; así como unos medios de control (8) de entorno para controlar el entorno de la muestra dentro de la cavidad (5).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2012/070584.

Solicitante: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC).

Nacionalidad solicitante: España.

Inventor/es: PONS PONS,RAMÓN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N23/10 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › estando el material confinado en un recipiente, p. ej. en analizadores de equipaje por rayos X.
DISPOSITIVO PARA CARACTERIZACIÓN DE MUESTRAS POR MEDIO DE DIFRACCIÓN O DE DISPERSIÓN DE RAYOS X.

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