Aparato de inspección.

Un aparato (100) para inspeccionar un flujo de materia (10), comprendiendo el aparato:



- una primera fuente de luz (101) que se adapta para emitir un primer haz de luz (111) que comprende longitudes de onda dentro de un primer rango de longitud de onda (λ1a-λ1b), para iluminar dicho flujo de materia de lado a lado y,

- un primer detector (131) dispuesto para recibir dicho primer haz de luz (111) después de que se refleja contra dicho flujo de materia (10) en una primera área de detección (136),

- una segunda fuente de luz (102) adaptada para emitir un segundo haz de luz (112) que comprende longitudes de onda dentro de un segundo rango de longitud de onda (λ2a-λ2b), para iluminar dicho flujo de materia en un área iluminada (117), en la que cualquier longitud de onda (λ1) en dicho primer rango de longitud de onda es diferente de cualquier longitud de onda (λ2) en dicho segundo rango de longitud de onda

- un segundo detector (132) dispuesto para recibir dicho segundo haz de luz (112) después de que se refleja contra dicho flujo de materia (10) en una segunda área de detección (137),

- un primer elemento de escaneo (151) dispuesto entre dicho flujo de materia (10) y dicho segundo detector (132) y adaptado para redirigir dicha segunda área de detección (137) de lado a lado a través de dicho flujo de materia, que comprende, además:

- un elemento divisor de haz (140) dispuesto para recibir dicho primer haz de luz (111), después de que dicho primer haz de luz se refleja contra dicha materia a lo largo de un primer eje óptico (121), y dispuesto para recibir dicho segundo haz de luz (112), después de que dicho segundo haz de luz se refleja contra dicha materia también a lo largo de dicho primer eje óptico (121),

en el que dicho elemento de división del haz (140) se adapta para guiar dicho primer haz de luz reflejado (111) hacia dicho primer detector (131) y para guiar dicho segundo haz de luz reflejado (112) hacia dicho segundo detector (132) al redirigir uno de dichos primer haz de luz reflejado y dicho segundo haz de luz reflejado a lo largo de un segundo eje óptico (122) no paralelo a dicho primer eje óptico (121),

el aparato se caracteriza porque dicho elemento de escaneo (151) se dispone entre dicho elemento de división del haz (140) y dicho segundo detector (132) para recibir solo dicho segundo haz de luz reflejado de dichos primer y segundo haces de luz reflejados.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2014/073578.

Solicitante: TOMRA Sorting NV.

Nacionalidad solicitante: Bélgica.

Dirección: Research Park Haasrode 1622, Romeinse straat, 20 3001 Leuven BELGICA.

Inventor/es: HARBECK, HARTMUT, BALTHASAR,DIRK.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • B07C5/342 SECCION B — TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES.B07 SEPARACION DE SOLIDOS; CLASIFICACION.B07C CLASIFICACION POSTAL; CLASIFICACION DE OBJETOS INDIVIDUALES O DE UN MATERIAL A GRANEL MANIPULABLE PIEZA POR PIEZA COMO OBJETOS INDIVIDUALES (especialmente adaptada a un fin determinado previsto en otra clase, ver la clase apropiada, p. ej. A43D 33/06, B23Q 7/12). › B07C 5/00 Clasificación según una característica o una particularidad de los objetos o del material a clasificar, p. ej. clasificación controlada por un dispositivo que detecta o mide esta característica o particularidad; Clasificación con ayuda de dispositivos manuales, p. ej. sistemas de agujas (clasificación exclusivamente manual B07C 7/00; separación de diferentes sólidos unos de otros por cribado, tamizado o utilización de corrientes de gas, u otra separación por vía seca para materiales a granel B07B; selección de monedas G07D). › según las propiedades ópticas, p. ej. el color.
  • G01N21/85 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Análisis de fluidos o sólidos granulados en movimiento.

PDF original: ES-2811601_T3.pdf

 

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