Sistema analizador de material a granel.

Sistema de análisis de material a granel en tiempo real para analizar las características elementales del material (30) a granel que pasa por una cinta transportadora en movimiento,

comprendiendo dicho sistema

- una fuente de iluminación (50) para excitar material (30) a granel que se ha de analizar,

- un sensor espectral (20) para capturar la reflectancia espectral procedente del material (30) a granel excitado por la fuente de iluminación, y

- una unidad (60) de control para comparar la reflectancia espectral capturada con una calibración almacenada caracterizado por que

- dicha fuente (50) de iluminación está emitiendo luz blanca, y

- dicho sensor espectral (20) es un espectrómetro (20) de formación de imágenes hiper-espectrales que produce una imagen bidimensional, siendo una dimensión el ancho esférico de la cinta transportadora y siendo la otra dimensión la longitud de onda de la reflectancia, representando así cada punto de la imagen cantidad de energía a una longitud de onda específica reflejada desde un punto específico a lo largo de la cinta transportadora, siendo reenviados dichos datos de imagen a la unidad (60) de control,

- dicha unidad (60) de control comprende medios para comparar una firma espectral (43) para cada punto específico a lo largo de la cinta transportadora que ha sido capturada por el espectrómetro (20) con un conjunto de calibraciones almacenadas, que representan concentraciones esperadas de estándares previamente caracterizados, dicha firma espectral (43) comprende un espectro continuo de la cantidad de energía reflejada desde el punto específico sobre un intervalo de longitud de onda, estando configurado el sistema de material a granel en tiempo real para recopilar información de todos los puntos individuales para obtener la distribución total del material a granel, identificado por ello elementos específicos del material a granel o sus óxidos en lo que se refiere a presencia y concentración mediante intensidades de firmas espectrales detectadas y reconocidas, y

estando configurado por ello el sistema de análisis del material a granel en tiempo real para vigilar cada fuente de material a granel de modo que corrija para grados más ricos o más pobres de los materiales a granel por adiciones de cada material a granel según sea requerido por un algoritmo de control que obtiene la química en tiempo real de los materiales a granel basándose en la comparación e identificación establecidas.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2007/054495.

Solicitante: ABB SCHWEIZ AG.

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: BROWN BOVERI STRASSE 6 5400 BADEN SUIZA.

Inventor/es: MOUND,MICHAEL.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01J3/28 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES.G01J 3/00 Espectrometría; Espectrofotometría; Monocromadores; Medida del color. › Estudio del espectro (utilizando filtros de color G01J 3/51).
  • G01N21/85 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Análisis de fluidos o sólidos granulados en movimiento.

PDF original: ES-2769252_T3.pdf

 

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