Unidad de láser de cavidad externa que incorpora filtro de interferencia de paso de banda de radiación infrarroja media.

Unidad (300) de láser de cavidad externa que comprende un láser (310) que puede generar radiación óptica coherente (R) en el intervalo de radiación infrarroja media,

un filtro, y un reflector (320), en la que en dicho filtro (200) se dispone entre el láser (310) y el reflector (320), caracterizado porque dicho filtro es un filtro (200) de interferencia de paso de banda de radiación infrarroja media que comprende una secuencia de capas (100, 110, 120) de capas alternas de materiales de alto índice de refracción y de bajo índice de refracción, siendo dichos materiales de alto índice de refracción y de bajo índice de refracción transparentes en el intervalo de radiación infrarroja media, en la que una capa de mejora de la adhesión (G) se dispone entre al menos una capa de dicho material de alto índice de refracción y la capa adyacente de dicho material de bajo índice de refracción, y en la que el filtro (200) consiste en o comprende la siguiente estructura:

- (HGLG) repetida n veces,

- HGLLG,

- (HGLG) repetida m veces,

- H

en la que

- H es una capa de dicho material de alto índice de refracción,

- L es una capa de dicho material de bajo índice de refracción,

en la que el grosor de las capas (H) de dicho material de alto índice de refracción y el grosor de las capas (L) de dicho material de bajo índice de refracción es igual a un cuarto de la longitud de onda de la radiación (R), que se emite mediante el láser (310) de cavidad externa, en el material respectivo, corregido para el ángulo bajo el que pasa la radiación (R) las capas,

- G es una capa de mejora de la adhesión, y

- n y m son números enteros.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E13184527.

Solicitante: HUMBOLDT UNIVERSITÄT ZU BERLIN.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: UNTER DEN LINDEN 6 10099 BERLIN ALEMANIA.

Inventor/es: MASSELINK,WILLIAM TED, SEMTSIV,MYKHAYLO PETROVYCH, KISCHKAT,JAN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B5/28 SECCION G — FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 5/00 Elementos ópticos distintos de las lentes (guías de luz G02B 6/00; elementos ópticos lógicos G02F 3/00). › Filtros de interferencia.
  • H01S5/14 SECCION H — ELECTRICIDAD.H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS.H01S DISPOSITIVOS QUE UTILIZAN LA EMISION ESTIMULADA.H01S 5/00 Láseres de semiconductor. › Láseres de cavidad externa (H01S 5/18 tiene prioridad; acoplamiento de modos o "mode-locking" H01S 5/065).

PDF original: ES-2726812_T3.pdf

 

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