Sistema y método para procesar dispositivos de procesamiento de muestras.

Un sistema de procesamiento de dispositivos de procesamiento de muestras (150),

comprendiendo el sistema:

una placa base acoplada operativamente a un sistema de accionamiento (120) y que tiene una primera superficie, en la que el sistema de accionamiento gira la placa base (110) alrededor de un eje de rotación, y en la que el eje de rotación define un eje z;

una cubierta (160) adaptada para colocarse frente a la primera superficie de la placa base (110), incluyendo la cubierta una primera proyección (124);

una carcasa (102) que comprende una parte (104) móvil con respecto a la placa base (110) entre una posición abierta en la que la cubierta (160) no está acoplada a la placa base (110) y una posición cerrada en la que la cubierta está acoplada a la placa base, incluyendo la parte (104) una segunda proyección (126), adaptadas la primera proyección (124) y la segunda proyección (126) para acoplarse juntas cuando la parte (104) está en la posición abierta y desacoplarse entre sí cuando la parte (104) está en la posición cerrada, de modo que la cubierta está desacoplada de la parte de la carcasa (102) y puede girar con la placa base alrededor del eje de rotación cuando la parte (104) está en la posición cerrada y cuando la cubierta está acoplada a la placa base;

un dispositivo de procesamiento de muestras (150) que comprende al menos una cámara de método (152, 154) y adaptada para colocarse entre la placa base (110) y la cubierta (160), el dispositivo de procesamiento de muestras (150) puede girar con la placa base (110) alrededor del eje de rotación cuando el dispositivo de procesamiento de muestras (150) está acoplado a la placa base;

caracterizado porque el sistema comprende además:

al menos un primer elemento magnético (172) acoplado operativamente a la placa base (110); y

al menos un segundo elemento magnético (170) acoplado operativamente a la cubierta (160), el al menos un primer elemento magnético (172) configurado para atraer el al menos un segundo elemento magnético (170) para forzar la 30 cubierta en una primera dirección a lo largo el eje z.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2009/064365.

Solicitante: DIASORIN S.P.A.

Nacionalidad solicitante: Italia.

Dirección: Via Crescentino snc 13040 Saluggia (Vercelli) ITALIA.

Inventor/es: BEDINGHAM,WILLIAM, LUDOWISE,PETER D, ROBOLE,BARRY W, PEDERSON,JEFFREY C.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • B01L7/00 SECCION B — TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES.B01 PROCEDIMIENTOS O APARATOS FISICOS O QUIMICOS EN GENERAL.B01L APARATOS DE LABORATORIO PARA LA QUIMICA O LA FISICA, DE USO GENERAL (aparatos de uso médico o farmacéutico A61; aparatos para aplicaciones industriales o aparatos de laboratorio cuya estructura y funciones son comparables a las de aparatos industriales similares, ver las clases relativas a los aparatos industriales, en particular las subclases B01 y C12; aparatos de separación o de destilación B01D; dispositivos de mezcla o de agitación B01F; atomizadores B05B; tamices, cribas B07B; tapones, capuchones B65D; manipulación de líquidos en general B67; bombas de vacío F04; sifones F04F 10/00; grifos, válvulas F16K; tubos, empalmes para tubos F16L; aparatos especialmente adaptados al estudio y análisis de materiales G01, particularmente G01N; aparatos eléctricos u ópticos, ver las subclases apropiadas en las secciones G y H). › Aparatos de calentamiento o de enfriamiento (evaporadores B01D 1/00; secado de gases o vapores, p. ej. desecadores, B01D 53/26; autoclaves B01J 3/04; hornos de secado F26B; altos hornos, hornos F27 ); Dispositivos de aislamiento térmico.
  • B01L9/00 B01L […] › Dispositivos de soporte; Dispositivos de sujeción (tenacillas, pinzas B25B).
  • G01N35/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.

PDF original: ES-2761284_T3.pdf

 

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