Dispositivo de prueba de alta tensión y alta potencia.

Un dispositivo de prueba de alta tensión y alta potencia (1) que comprende

- medios para generar una tensión de prueba,

en el que la tensión de prueba es un tensión alterna que tiene una amplitud de al menos 100 kV a una potencia superior a 1 kW y en el que los medios para generar la tensión de prueba tienen al menos dos ramas de amplificador de tensión (4, 5), de las cuales una primera rama de amplificador de tensión (4) contribuye a la generación de las medias ondas de tensión positiva de la tensión de prueba y una segunda rama de amplificador de tensión (5) para generar las medias ondas de tensión negativa de la tensión de prueba, y

- un circuito de medición (17, 23, 24) para medir la tensión de prueba que se aplicará a un objeto de medición y la corriente de prueba generada de ese modo en el objeto de medición,

caracterizado por que,

cada rama de amplificador de tensión (4, 5) se instala en un módulo individual (26, 26', 26'', 27, 27', 27'') con enfriamiento por aire activa integrada (32, 33, 34, 35).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2014/001372.

Solicitante: b2 electronics GmbH.

Inventor/es: BALDAUF,STEFAN, BLANK,RUDOLF.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R1/44 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 1/00 Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R 5/00 - G01R 13/00 y G01R 31/00 (detalles estructurales particulares a disposiciones electromecánicas para medir el consumo eléctrico G01R 11/02). › Modificaciones de instrumentos para compensar las variaciones de temperatura.
  • G01R15/14 G01R […] › G01R 15/00 Detalles de dispositivos para proceder a las medidas de tipos previstos en los grupos G01R 17/00 - G01R 29/00, G01R 33/00 - G01R 33/26 o G01R 35/00. › Adaptaciones que suministran un aislamiento en tensión o en corriente, p. ej. adaptaciones para las redes de alta tensión o de corriente elevada.
  • G01R31/00 G01R […] › Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46).
  • G01R31/12 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
  • G01R31/14 G01R 31/00 […] › Circuitos para este efecto.
  • G01R31/16 G01R 31/00 […] › Construcción de recipientes de ensayo; Electrodos para tales recipientes.

PDF original: ES-2751685_T3.pdf

 

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