MÉTODO PARA LA EVALUACIÓN Y CALIFICACIÓN DE LAS CARACTERÍSTICAS FUNCIONALES DE INSTRUMENTOS DE MEDIDA Y DIAGNÓSTICO DE DESCARGAS PARCIALES E INSTALACIÓN PARA GENERAR SERIES DE PULSOS DE REFERENCIA DE DESCARGAS PARCIALES.

Método para la evaluación y calificación de las características funcionales de instrumentos de medida y diagnóstico de DP,

que comprende las siguientes etapas: -generación (1) a partir de una instalación (100) de ensayo de AT a escala de, al menos, una serie de ensayo de pulsos de referencia de DP característica de un tipo de defecto eléctrico representativo de las redes de AT, -generación de, al menos, una señal de ruido eléctrico (9), -superposición (14) sin conexión galvánica de una o varias de las seríes de pulsos de referencia de DP generadas correspondientes a una característica funcional concreta del instrumento de medida y diagnóstico para valores discretos de carga y de la señal o señales de ruido eléctrico generadas, y -evaluación y calificación (15) de dicha característica funcional del instrumento de medida y diagnóstico mediante suministro de la superposición de señales y lectura para comparar con los valores esperados.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2019/070096.

Solicitante: FUNDACIÓN PARA EL FOMENTO DE LA INNOVACIÓN INDUSTRIAL.

Nacionalidad solicitante: España.

Provincia: MADRID.

Inventor/es: GARNACHO VECINO,FERNANDO, ÁLVAREZ GÓMEZ,Fernando, KHAMLICHI EL KHAMLICHI,Abderrahim.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R29/24 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00. › Disposiciones para medir cantidades de carga.
  • G01R31/12 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
  • G01R35/00 G01R […] › Ensayo o calibrado de los aparatos cubiertos por los otros grupos de esta subclase.

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