Método para la evaluación y calificación de las características funcionales de instrumentos de medida y diagnóstico de descargas parciales e instalación para generar series de pulsos de referencia de descargas parciales.
Método para la evaluación y calificación de las características funcionales de instrumentos de medida y diagnóstico de DP,
que comprende las siguientes etapas:
- generación (1) a partir de una instalación (100) de ensayo de AT a escala de, al menos, una serie de ensayo de pulsos de referencia de OP característica de un tipo de defecto eléctrico representativo de las redes de AT,
- generación de, al menos, una señal de ruido eléctrico,
- superposición (14) mediante acoplamiento electromagnético con separación galvánica de una o varias de las series de pulsos de referencia de DP generadas correspondientes a una característica funcional concreta del instrumento de medida y diagnóstico para valores discretos de carga y de la señal o señales de ruido eléctrico generadas, y
- evaluación y calificación (15) de dicha característica funcional del instrumento de medida y diagnóstico mediante suministro de la superposición de señales y lectura para comparar con los valores esperados.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201800043.
Solicitante: FUNDACIÓN PARA EL FOMENTO DE LA INNOVACIÓN INDUSTRIAL.
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: GARNACHO VECINO,FERNANDO, ÁLVAREZ GÓMEZ,Fernando, KHAMLICHI EL KHAMLICHI,Abderrahim, ARCONES DEL ALAMO,Eduardo, RAMIREZ LINARES,Angel, VERA ROMERO,Carlos Alberto.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R29/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 29/00 Dispositivos para realizar medidas o indicaciones de valores eléctricos no comprendidos en los grupos G01R 19/00 - G01R 27/00. › Disposiciones para medir cantidades de carga.
- G01R31/12 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
- G01R35/00 G01R […] › Ensayo o calibrado de los aparatos cubiertos por los otros grupos de esta subclase.
PDF original: ES-2723430_B2.pdf
PDF original: ES-2723430_A1.pdf
PDF original: ES-2723430_B8.pdf
PDF original: ES-2723430_A8.pdf
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