Método automatizado de fabricación de frotis.
Un método para la preparación automatizada de un portaobjetos utilizando un cartucho de frotis (115) de un subsistema de preparación de frotis (130),
comprendiendo dicho método las etapas de:
desplazar un portaobjetos (380) hacia una superficie de frotis de una cinta de preparación de frotis (482) del cartucho de frotis, en donde la superficie de frotis está incluida en una lámina (487) de un rebaje (588) de la cinta de preparación de frotis, y en donde la cinta de preparación de frotis se enrolla inicialmente dentro de un carrete de entrada (483) del cartucho de frotis (115) y se acopla a un carrete de recogida (485) del cartucho de frotis;
poner en contacto el portaobjetos con una superficie de frotis expuesta de la cinta de preparación de frotis, en donde la superficie de frotis se expone cuando la posición de la lámina del rebaje (588) se extiende por un componente de desviación (484) del cartucho de frotis a medida que la cinta de preparación de frotis se extrae del carrete de entrada y se introduce en el carrete de recogida; y transportar el portaobjetos a través de la superficie de frotis expuesta.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E17170691.
Solicitante: ABBOTT LABORATORIES.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 100 Abbott Park Road Abbott Park, IL 60064-3500 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: SHOFFNER,JOHN SCOTT, CHACKO,KOSHY T, SOLOMON,ROEI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › Preparación de muestras para el análisis (montaje de muestras sobre las placas del microscopio G02B 21/34; medios de soporte para los objetos o para los materiales a examinar en un microscopio electrónico H01J 37/20).
- G01N35/00 G01N […] › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
PDF original: ES-2734309_T3.pdf
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