Procedimiento para medición cuantitativa de un biomarcador mediante inmunofluorescencia in situ y usos del mismo.

Un procedimiento para la medición cuantitativa de un marcador diana mediante inmunofluorescencia in situ que comprende las etapas de:



a) el suministro de una muestra inmovilizada en un soporte de muestra;

b) la realización de una etapa de tinción que comprende la incubación de dicha muestra con al menos una sonda diana, al menos una sonda de cribado para obtener imágenes de la región de muestra de interés (primera sonda de cribado) y, opcionalmente, al menos una sonda de cribado adicional para la región de muestra de no interés que ha de ser descartada en un análisis posterior (segunda sonda de cribado), donde los tiempos de incubación de la muestra con cada una de dichas sondas son lo suficientemente bajos como para evitar la saturación de la muestra con las sondas, garantizando al mismo tiempo la tinción adecuada de la muestra de modo que pueda formarse una relación lineal entre la concentración del marcador diana y la intensidad de la señal fluorescente resultante, donde los tiempos de incubación de la muestra con cada una de dichas sondas son inferiores a 16 minutos;

c) la adquisición de una imagen de la muestra teñida que comprende señales sin procesar emitidas por cada una de las sondas de obtención de imágenes;

d) la generación de una máscara de evaluación diana que comprende un área activa para el análisis de dicho marcador diana, que comprende la definición de un umbral para las señales de dicha al menos una sonda de cribado, y la asignación de valores binarios a las señales de sonda de cribado, comprendiendo dichos valores binarios un primer valor (por ejemplo, 0) y un segundo valor (por ejemplo, 1), por lo que los valores de señal de sonda de cribado que están más allá de dicho umbral correspondiente se establecen en dicho primer valor, y los valores de señal de sonda de cribado que no están más allá de dicho umbral correspondiente se establecen en dicho segundo valor, estando definida dicha área activa de la máscara por áreas de la imagen que comprenden señales establecidas en dicho segundo valor;

e) la aplicación del área activa de la máscara de evaluación diana sobre los valores de señal sin procesar de la primera sonda de cribado para obtener un conjunto de datos de sonda de cribado que comprende valores proporcionales a los valores de señal sin procesar de la primera sonda de cribado para el área activa;

f) el procesamiento de las señales de la sonda diana, incluyendo la extracción de datos de señal de sonda diana limitados a dicha área activa para obtener un conjunto de datos de sonda diana que comprende valores de señal de sonda diana para el área activa; y

g) la generación de una salida de muestra que incluye la combinación de dicho conjunto de datos de sonda diana con dicho conjunto de datos de sonda de cribado para proporcionar información sobre niveles cuantitativos del marcador diana.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2017/052717.

Solicitante: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL).

Nacionalidad solicitante: Suiza.

Dirección: EPFL-TTO, EPFL Innovation Park J 1015 Lausanne SUIZA.

Inventor/es: GIJS, MARTIN, CIFTLIK,ATA TUNA, DUPOUY,DIEGO GABRIEL, HEINTZE,DÉBORAH.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G06K9/00 SECCION G — FISICA.G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06K RECONOCIMIENTO DE DATOS; PRESENTACION DE DATOS; SOPORTES DE REGISTROS; MANIPULACION DE SOPORTES DE REGISTROS (impresión per se B41J, G01V). › Métodos o disposiciones para la lectura o el reconocimiento de caracteres impresos o escritos o el reconocimiento de formas, p. ej. de huellas dactilares (métodos y disposiciones para la lectura de grafos o para la conversión de patrones de parámetros mecánicos, p.e. la fuerza o la presencia, en señales eléctricas G06K 11/00; reconocimiento de la voz G10L 15/00).
  • G06T7/00 G06 […] › G06T TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL (especialmente adoptados para aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01C, G06K, G09G, H04N). › Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario.

PDF original: ES-2776873_T3.pdf

 

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