Adquisición de imágenes topográficas en 3D de marcas de herramientas usando un método estéreo fotométrico no lineal.
Un método para determinar una topografía Z(x,y) en 3D de una superficie de un objeto,
comprendiendo el método: Iluminar de manera sucesiva la superficie del objeto a partir de una pluralidad de posiciones de eje localizadas, teniendo el objeto una reflexión especular y una reflexión difusa.
adquirir al menos una imagen de la superficie del objeto en cada iluminación sucesiva de la superficie del objeto usando un sensor que tiene un eje sensor sustancialmente perpendicular a un plano general de la superficie del objeto, resultando de este modo en un conjunto de imágenes de luminosidad que tienen un mismo campo de visión (FOV);
definir para cada imagen de luminosidad, una luminosidad medida en la posición (x,y) en una imagen i-ésima como una suma de un término de reflexión difusa y un término de reflexión especular, para definir un conjunto de ecuaciones no lineales,
en donde el término de reflexión especular es dependiente del campo N(x,y) normal a la superficie, de un vector Li unitario que apunta desde la superficie a la i-esima fuente de luz, y de un vector C unitario que apunta desde la superficie a la cámara,
solucionar el conjunto de ecuaciones no lineales para al menos el término de reflexión especular para encontrar el campo N(x,y) normal a la superficie; e integrar el campo N(x,y) normal a la superficie sobre el FOV para determinar la topografía Z(x,y) en 3D.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CA2011/050335.
Solicitante: Ultra Electronics Forensic Technology Inc.
Nacionalidad solicitante: Canadá.
Dirección: 200-5757 Cavendish Blvd. Cote-Saint-Luc, Québec H4W 2W8 CANADA.
Inventor/es: LÉVESQUE,SERGE.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/245 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › que utilizan una pluralidad de transductores fijos que funcionan simultáneamente (G01B 11/255 tiene prioridad).
PDF original: ES-2742264_T3.pdf
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