Sistema de inspección para inspeccionar un objeto y método de inspección para el mismo.

Un sistema de inspección en tres dimensiones (20) para inspeccionar una superficie exterior de un objeto (22),

comprendiendo el sistema de inspección (20):

al menos un proyector de luz (30) y al menos dos cámaras calibradas (40) que definen conjuntamente un campo de visión (50) del sistema de inspección (20); y

un ordenador (60) conectado de manera operativa al al menos un proyector de luz (30) y a las al menos dos cámaras calibradas (40), estando configurado el ordenador (60) para:

adquirir datos de objeto en tres dimensiones representativos de la superficie exterior del objeto (22) posicionado en el campo de visión (50) a través de proyección de luz sobre este por el al menos un proyector de luz (30) y la adquisición de luz de retorno mediante las al menos dos cámaras calibradas (40), relacionando los datos de objeto en tres dimensiones puntos superficiales sobre la superficie exterior del objeto (22) con uno o más puntos fuente del al menos un proyector de luz (30);

generar datos de información de inspección basándose en los datos de objeto en tres dimensiones adquiridos; y

proyectar los datos de información de inspección sobre al menos algunos de los puntos superficiales de la superficie exterior del objeto (22) usando los puntos fuente correspondientes del al menos un proyector de luz (30), realizándose la determinación de una imagen que ha de representarse mediante el al menos un proyector de luz (30) para proyectar los datos de información de inspección generados sobre la superficie exterior del objeto (22) sin requerir calibración adicional del al menos un proyector de luz (30).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CA2014/050651.

Solicitante: Polyrix Inc.

Nacionalidad solicitante: Canadá.

Dirección: 113 rue de New York Saint-Augustin-de-Desmaures Québec, G3A 0A8 CANADA.

Inventor/es: LAMBERT, PHILIPPE, DESCHENES,JEAN-DANIEL, MARTEL-BRISSON,NICOLAS, QUIRION,SÉBASTIEN.

Fecha de Publicación: 10 de Julio de 2019.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01B11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00).
G01B11/245 G01B […] › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › que utilizan una pluralidad de transductores fijos que funcionan simultáneamente (G01B 11/255 tiene prioridad).
G01B11/25 G01B 11/00 […] › mediante la proyección de un patrón, p. ej.franjas de Moiré, sobre el objeto (G01B 11/255 tiene prioridad).
G01N21/88 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.

PDF original: ES-2719492_T3.pdf

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