Aparato y procedimiento para medir corrientes de fuga en cadenas de discos aislantes de porcelana y vidrio.
Un aparato de detección (20) para detectar y supervisar corrientes de fuga en cadenas de discos aislantes de un sistema de energía eléctrica,
comprendiendo el aparato:
(a) una unidad de detección (20) configurada para acoplarse a un capuchón (14) de una cadena de discos aislantes (10), incluyendo la unidad de detección:
(i) un disco de detección (21) configurado para rodear el capuchón, incluyendo el disco de detección un conjunto de discos inferiores conductores (24), un conjunto de discos superiores conductores (26), un conjunto de discos aislantes (27) intercalado entre los conjuntos de discos conductores superiores e inferiores, y una rejilla conductora (28) conectada a una parte inferior del conjunto de discos inferiores para proporcionar un contacto uniforme entre el disco de detección y una superficie de un disco aislante; y
(ii) un alojamiento (23) conectado al disco de detección, incluyendo el alojamiento componentes electrónicos configurados para medir y notificar corrientes de fuga en un disco aislante; y
(b) donde las corrientes de fuga en una superficie del disco aislante son interceptadas por el disco de detección y transferidas al alojamiento para su procesamiento y notificación por los componentes electrónicos.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E14197445.
Solicitante: ELECTRIC POWER RESEARCH INSTITUTE, INC.
Inventor/es: PHILLIPS,ANDREW JOHN, ENGELBRECHT,CHRISTIAAN STEPHEN, MAJOR,J. MARK, LYNCH,ROBERT CARLTON.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/02
- G01R31/12 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de la rigidez dieléctrica o de la tensión de ruptura.
PDF original: ES-2603702_T3.pdf
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