Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato.
1. Aparato para detectar rayos X incidentes en el aparato, caracterizado porque comprende:
a. una pluralidad de hojas de colimación activa sustancialmente paralelas que comprenden detectores de centelleo acoplados mediante fibra con desplazamiento de longitud de onda sensibles a la radiación para generar al menos una primera señal de detección; y
b. un detector posterior de zona amplia para detectar radiación de rayos X que pasa entre hojas de colimación activa sustancialmente paralelas de la pluralidad de hojas de colimación activa y generar una segunda señal de detección.
2. Aparato de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque además comprende:
c. un procesador para recibir y procesar la primera y la segunda señales de detección.
Tipo: Modelo de Utilidad. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: U201600177.
Solicitante: AMERICAN SCIENCE AND ENGINEERING, INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 829 Middlesex Avenue 01821 Billerica, MA, Estados Unidos ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: SUD,Rajen, SCHUBERT,Jeffrey, ROMMEL,Martin.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › y formando imágenes del material.
- G01N23/20 G01N 23/00 […] › utilizando la difracción de la radiación por los materiales, p. ej. para investigar la estructura cristalina; utilizando la dispersión de la radiación por los materiales, p. ej. para la investigación de materiales no cristalinos; utilizando la reflexión de la radiación por los materiales.
- G01T3/06 G01 […] › G01T MEDIDA DE RADIACIONES NUCLEARES O DE RAYOS X (análisis de materiales por radiaciones, espectrometría de masas G01N 23/00; tubos para determinar la presencia, intensidad, densidad o energía de una radiación o de partículas H01J 47/00). › G01T 3/00 Medida del flujo de neutrones (G01T 5/00 tiene prioridad). › con detectores de centelleo.
- G01V5/00 G01 […] › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.
- H05G1/00 ELECTRICIDAD. › H05 TECNICAS ELECTRICAS NO PREVISTAS EN OTRO LUGAR. › H05G TECNICAS DE LOS RAYOS X (aparatos para diagnóstico radiológico A61B 6/00; radioterapia A61N; verificación [ensayos] por rayos X G01N; aparatos de radiofotografía G03B; filtros, pantallas de conversión G21K; tubos de rayos X H01J 35/00; sistemas de televisión con una señal de entrada constituida por rayos X H04N 5/321). › Aparatos de rayos X que utilizan tubos de rayos X; Circuitos para esos aparatos.
PDF original: ES-1153640_U.pdf
Patentes similares o relacionadas:
Sistema de inspección de espacios de acceso limitado, del 8 de Enero de 2020, de S.T.I. Security Technology Integration Ltd: Un sistema de inspección de espacios de acceso limitado que comprende: un dispositivo de detección para detección en una región de dicho espacio de acceso […]
Sistemas de inspección de tomografía de rayos X, del 4 de Diciembre de 2019, de CXR LIMITED: Sistema de escaneado de rayos X que comprende una fuente de rayos X dispuesta para generar rayos X desde una pluralidad de posiciones de fuente alrededor […]
Método y sistema para identificar un líquido, del 25 de Septiembre de 2019, de TSINGHUA UNIVERSITY: Método para detección de líquido, que comprende: implementar una obtención de imágenes por TC y una obtención de imágenes por DRX en uno o más planos […]
Sistemas de inspección de tomografía de rayos X, del 30 de Agosto de 2017, de CXR LIMITED: Un sistema de escaneado de rayos X que comprende un escáner y medios de procesamiento, comprendiendo el escáner: una fuente de rayos X que tiene una pluralidad […]
Procedimiento de medición de difracción de los rayos x, sus aplicaciones y dispositivo de implementación, del 3 de Mayo de 2017, de UNIVERSITE DE ROUEN: Procedimiento de medición de difracción de los rayos X, en el que se instala en un recipiente que comprende un fondo plano permeable a los rayos X, un compuesto […]
DISPOSITIVO DE TOPE PARA HACES DE RADIACIÓN, del 2 de Febrero de 2017, de CONSORCI PER A LA CONSTRUCCIÓ, EQUIPAMENT I EXPLOTACIÓ DEL LABORATORI DE LLUM DE SINCROTRÓ: Dispositivo de tope para haces de radiación, que comprende: un tope para bloquear haces de radiación y un dispositivo de accionamiento asociado […]
Procedimiento de detección de polimorfos que utiliza una radiación de sincrotrón, del 27 de Julio de 2016, de ZETACUBE S.r.l: Procedimiento para detectar la presencia y/o determinar la cantidad de una forma polimórfica no predominante de un compuesto polimórfico en […]
Escaneo primario y secundario en inspección de tomografía muónica, del 27 de Abril de 2016, de Decision Sciences International Corporation: Un método para inspeccionar objetos basados en tomografía muónica usando muones producidos por rayos cósmicos que comprende: operar un primer escáner […]