PROCEDIMIENTO PARA LA ESTIMACIÓN DE CARACTERÍSTICAS ELÉCTRICAS DE UN CIRCUITO ANALÓGICO MEDIANTE LA MEDICIÓN EN CONTINUA DE TEMPERATURA.
La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura.
La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor (1) que puede contener diferentes circuitos analógicos (2). Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal (4) y entradas de la tensión de alimentación (3). La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación (3), sin aplicar señal a las entradas (4), provoca que los dispositivos que forman el amplificador disipen potencia. Mediciones del incremento de temperatura provocada por esta disipación de potencia en puntos seleccionados del semiconductor (5) permiten obtener características del circuito analógico, tales como, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, ganancia de amplificadores. La medida de la temperatura se realiza en continua y puede hacerse bien mediante sensores de temperatura integrados en el mismo cristal semiconductor, bien mediante sensores externos.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/ES2012/070882.
Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA.
Nacionalidad solicitante: España.
Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, MATEO PEÑA,DIEGO, GÓMEZ SALINAS,Didac.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/316 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayos de circuitos analógicos.
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