METODO DE PRUEBA DE CIRCUITO.

LA INVENCION ACTUAL SE REFIERE AL METODO PARA PROBAR CIRCUITOS DIGITALES O ANALOGICOS.

SI SE DETECTA UN FALLO DESPUES DE QUE SE HAYA APLICADO UN ESTIMULO, Y SE REALIZAN MEDICIONES DE PRUEBA EN ALGUNOS NUDOS DE CIRCUITOS , SE TOMARAN MEDIDAS PARA LOCALIZAR LOS COMPONENTES DEL CIRCUITO DEFECTUOSOS. SE SELECCIONA AL MENOS OTRO NUDO POSTERIOR, PARA MEDIRLO EN BASE A LOS NIVELES DE INFORMACION QUE DICHOS NUDOS PODRAN PROPORCIONAR. MEDICIONES POSTERIORES AYUDAN A LOCALIZACIONES DEFECTUOSAS. LOS NIVELES DE INFORMACION DE LOS CIRCUITOS ANALOGICOS SE DETERMINAN CALCULANDO LOS FACTORES DE DISCRIMINACION QUE DEPENDEN DE GAMAS DE TENSION POSIBLES EN NUDOS DE CIRCUITOS INMESURABLES SI SE CONSIDERA A VARIOS COMPONENTES COMO DEFECTUOSOS. LA INFORMACION GANADA MEDIANTE LA MEDIDA EN UN NUDO POSTERIOR SE UTILIZA PARA REDUCIR LAS GAMAS DE TENSION A FIN DE AYUDAR A SELECCIONAR OTRO NUDO PARA MEDIR.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES LIMITED.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: 124 VICTORIA ROAD,FARNBOROUGH HAMPSHIRE GU14 7PW.

Inventor/es: MCKEON, ALICE, ROGEL-FAVILA, BENJAMIN, WAKELING, ANTONY.

Fecha de Publicación: 16 de Octubre de 1997.

Fecha Concesión Europea: 6 de Agosto de 1997.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01R31/316 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayos de circuitos analógicos.
G01R31/317 G01R 31/00 […] › Ensayo de circuitos digitales.

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