18 inventos, patentes y modelos de ALTET SANAHUJES,JOSEP

(10/08/2015) Procedimiento para la medición del ancho de banda a 3dB en amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en pequeña señal. La presente invención se refiere a un procedimiento para la medición del ancho de banda a 3dB de amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en pequeña señal. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador sintonizado . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que proporciona al amplificador dos funciones sinusoidales cuyas frecuencias difieren en Δf hercios. Mediciones de la amplitud de componente espectral de la temperatura a la frecuencia Δf en puntos seleccionados del circuito integrado, en este caso…

(17/12/2014) Procedimiento para la obtención del punto de intercepción de tercer orden en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la medida de la linealidad en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor, a través de la obtención del punto de intercepción de tercer orden mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos y/o digitales , siendo uno de ellos un circuito analógico lineal, en este caso un amplificador . El funcionamiento de dicho amplificador provoca una disipación de potencia y ésta un incremento de temperatura en la superficie del…

(26/06/2014) Sensor de temperatura diferencial con inmunidad a interferencias térmicas. La presente invención describe un circuito electrónico orientado a ser integrado en un cristal semiconductor capaz de proporcionar una magnitud eléctrica a su salida dependiente de la diferencia de temperatura entre dos zonas de la superficie de dicho cristal semiconductor, y que presenta al mismo tiempo un gran rechazo a posibles interferencias térmicas provenientes de otras zonas del mismo cristal. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene diversos dispositivos internos, , y en la figura,…

(18/11/2013) Circuito electrónico con magnitud eléctrica de salida dependiente de la diferencia de tensión de dos nodos de entrada y de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos. La presente invención describe un circuito electrónico cuya magnitud eléctrica de salida depende de la diferencia de tensión de dos de los nodos de entrada del mismo así como de la diferencia de temperatura de dos de sus dispositivos internos. La figura 1 muestra el símbolo del circuito electrónico. Éste tiene como entradas eléctricas dos entradas en tensión y y dos entradas de alimentación y , y como salida tiene un nodo . Además, tiene dos dispositivos internos y cuya diferencia de temperaturas influirá de forma directa en el valor de la magnitud…

(14/10/2013) Circuito sensor para la medida de temperatura en pequeña señal en circuitos integrados. La presente invención describe un circuito sensor para la medida de las variaciones de temperatura en pequeña señal a una frecuencia F provocadas por la potencia disipada por otro circuito, denominado circuito bajo medida, a la misma frecuencia F. El circuito sensor está compuesto por un transductor de temperatura acoplado térmicamente al circuito bajo medida a través del sustrato del mismo cristal semiconductor, un circuito de polarización y un filtro amplificador acoplado en alterna para eliminar los efectos de las variaciones lentas de temperatura. Por ejemplo, y sin que esta aplicación limite las reivindicaciones de la patente, la tensión de salida del circuito sensor, con una componente espectral a la frecuencia F amplificada,…

(10/10/2013) Procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La presente invención describe un procedimiento para la medición de la eficiencia de amplificadores de potencia integrados lineales clase A utilizando mediciones de temperatura en continua. La Fig. 1 muestra un circuito integrado que contiene un amplificador lineal de potencia clase A . La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador y el generador de señal que el amplificador amplifica y entrega a la carga . Mediciones de la componente continua de la temperatura en puntos seleccionados del circuito integrado, en este caso el punto , permiten la medición de la eficiencia del amplificador sin necesidad de utilizar…

(26/07/2013) Procedimiento para la estimación de características eléctricas de un circuito analógico mediante la medición en continua de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal y entradas de la tensión de alimentación . La polarización del circuito en continua aplicando una tensión…

(27/06/2013) La presente invención describe un procedimiento para la estimación de características eléctricas de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición en continua de la temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación del presente procedimiento, la figura muestra un amplificador. Este amplificador dispone de entradas de señal y entradas de la tensión de alimentación . La polarización del circuito en continua aplicando una tensión a las entradas de alimentación , sin aplicar señal a las entradas , provoca que los dispositivos que forman el amplificador disipen potencia. Mediciones del incremento de…

(03/12/2010) Procedimiento heterodino para la realización de mediciones de temperatura.Procedimiento para la observación de la amplitud y fase de componentes espectrales del aumento de temperatura en regiones de un circuito integrado provocado por el funcionamiento de un circuito o dispositivo ubicado en el cristal semiconductor . Dicho circuito o dispositivo se activa con una señal eléctrica que contiene la suma de dos funciones sinusoidales de frecuencias f1 y f2. La frecuencia de la componente espectral de la temperatura medida es F=f2-f1

(04/02/2010) Procedimiento para la obtención de la frecuencia central en amplificadores sintonizados integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La presente invención describe un procedimiento para la obtención de la frecuencia central en amplificadores sintonizados integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos i/o digitales , siendo uno de ellos un amplificador sintonizado . El funcionamiento de dicho amplificador provoca una disipación de potencia y ésta un incremento de temperatura en la superficie del cristal semiconductor.…

(16/02/2009) Caracterización eléctrica de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura.#La presente invención describe la caracterización eléctrica de circuitos analógicos integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura. La Fig. 1 muestra un cristal semiconductor que puede contener diferentes circuitos analógicos . Por ejemplo, y sin que la lista limite los ámbitos de aplicación de la presente, estos circuitos pueden ser amplificadores, mezcladores, PLLs u osciladores. El funcionamiento de un circuito analógico provoca una disipación de potencia y ésta un incremento de temperatura. Mediciones de ciertos componentes frecuenciales de dicha temperatura realizadas en diferentes zonas del cristal…