UN MICROBOLOMETRO SUPERCONDUCTOR DE ANTENA ACOPLADA DE PUNTO CALIENTE, METODOS PARA SU FABRICACION Y USO Y UNA DISPOSICION DE FORMACION DE IMAGENES BOLOMETRICA.
REIVINDICACIONES 1. Una disposición de formación de imágenes bolométrica,
que comprende: - un microbolómetro de antena acoplada, que comprende un sustrato (301), una antena (102, 103) soportada por el sustrato y un elemento (101, 305) térmicamente sensitivo conectado a la antena y dispuesto para disipar corrientes eléctricas inducidas en la antena, de los cuales tanto la antena (102, 103) como el elemento (101, 305) térmicamente sensitivo comprenden material semiconductor, - medios de soporte para soportar el elemento (101, 305) térmicamente sensitivo a una distancia del sustrato (301) dejando un hueco (306) vacío entre el elemento (101, 305) térmicamente sensitivo y una superficie del sustrato (301), y - un depósito (801) de vacío para encerrar el microbolómetro de antena acoplada en un ambiente de vacío y un criostato (802) para mantener el microbolómetro de antena acoplada por debajo de la temperatura crítica, caracterizada porque la disposición de formación de imágenes bolométrica comprende medios (607, 608, 609, 610, 806, 807, 808) de polarización adaptados para polarizar el elemento (101, 305) térmicamente sensitivo hacia un estado en el que una parte de punto caliente en el medio de dicho elemento térmicamente sensitivo está en un estado de conducción óhmica normal.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: METOREX INTERNATIONAL OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: NIHTISILLANKUJA 5,02630 ESPOO.
Inventor/es: LUUKANEN,ARTTU.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 27 de Mayo de 2003.
Fecha Concesión Europea: 11 de Julio de 2007.
Clasificación PCT:
- G01J5/20 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › G01J 5/00 Pirometría de las radiaciones. › utilizando elementos resistentes, termorresistentes o semiconductores sensibles a las radiaciones.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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